punte AFM

L'elenco degli articoli del nostro blog che parlano di punte AFM

Mercoledì 08 Febbraio 2023
Come scegliere le sonde AFM giuste per la tua applicazione

Registrati al webinar che ti guiderà nella selezione della sonda AFM ideale per la tua applicazione! Il 15 febbraio gli esperti di Asylum approfondiranno l'argomento, fornendo informazioni utili per gli utenti AFM, sia principianti che esperti.

Anche per un utente AFM...

Lunedì 16 Gennaio 2023
 The Future of Quantitative PFM

 

La Piezoresponse Force Microscopy (PFM) è una delle tecniche più potenti per la caratterizzazione su nanoscala di materiali piezoelettrici e ferroelettrici. Nonostante molti progressi lungo gli ultimi 30 anni, è comunque rimasto difficile effettuare...

Venerdì 18 Novembre 2022
Nuovo accessorio per il Jupiter XR AFM: nanoTDDB

Nuovo accessorio per il Jupiter XR AFM: nanoTDDB

Abstract

Nel campo della microelettronica, i dispositivi MOSFET (transistore a semiconduttore di ossido di metallo a effetto di campo) utilizzano materiali con strato (gate) ad alta costante dielettrica k, come il biossido di afnio (HfO₂) con una costante dielettrica...

Mercoledì 19 Ottobre 2022
Webinar - Analisi delle curve di forza AFM con MountainsSPIP® - Digital Surf

Presentatore del webinar: Mathieu Cognard, product manager per le applicazioni SPM.

Relatore Digital Surf: Dalia Yablon, fondatrice di SurfaceChar LLC, esperta di caratterizzazione dei materiali e nanotecnologie

In questo webinar, Digital Surg...

Giovedì 05 Maggio 2022

Vorresti dare un primo sguardo in esclusiva alle nuove funzionalità in arrivo con Mountains® 9.2?

Quindi iscriviti al prossimo webinar online di DigitalSurf, nel quale Alexis ti guiderà attraverso i punti salienti dell'ultima versione del software più all'avanguadia...

Giovedì 25 Febbraio 2021
Riparazione di fotomaschere con le punte Adama Innovations sharp ultra resistenti

Nuova application note per la riparazione di fotomaschere. Un'ottima opportunità per constatare come le punte di Adama Innovations, realizzate con singolo cristallo di diamante, possono essere utili per questa specifica applicazione.

  • Riparazione di difetti -...
Martedì 21 Luglio 2020
Webinar - Misurazione della rugosità superficiale di film sottili e substrati tramite microscopia a forza atomica

Mercoledì 29 luglio 2020 16:00 - 17:00

La rugosità superficiale è una misura importante per film sottili e substrati, applicabile a una vasta gamma di applicazioni, tra cui elettroniche per semiconduttori, archiviazione dati, ottica e altri componenti in vetro, nonché...

Mercoledì 24 Giugno 2020
AFM Electrical characterization with ResiScope, Soft ResiScope & HD-KFM modes

Argomenti chiave del webinar:

  • Modalità AFM avanzate CSI – Misure elettriche
  • Modalità HD-KFM mode: Concetto, vantaggi ed esempi
    • La più avanzata modalità KFM single-pass (senza alzare la punta)
    • Sensibilità e risoluzione...
Venerdì 31 Gennaio 2020
 Vista laterale di una sonda AFM RMN

Rocky Mountain Nanotechnology, LLC, è l'unica azienda che produce sonde AFM ultra affilate in platino e platino-iridio, per misurazioni elettriche ad alta risoluzione. Queste punte AFM possono essere utilizzate in varie modalità, tra cui tapping e contatto, e sono ideali per...

Mercoledì 30 Ottobre 2019
Schaefer e Asylum-Oxford Instruments all'StSPM19EV  - 21-22 novembre 2019

Schaefer è lieta di comunicare che sarà presente, con il partner Asylum-Oxford Instruments, all’evento "Science through Scanning Probe Microscopy 2019 - Extended Version" (StSPM19-EV), organizzato dalla società...

Giovedì 03 Ottobre 2019
Probing Nanoscale Structure & Properties of Polymers: Advances in Atomic Force Microscopy

Webinar Live: 16  ottobre 16:00 BST / 11:00 EDT / 08:00 PDT / 17:00 CEST

Gli strumenti di caratterizzazione odierni devono fornire informazioni su scale che arrivano a dimensioni micro o...

Martedì 20 Giugno 2017
High Definiton Kelvin Force Microscopy - BIMODAL HD-KFM

La caratterizzazione elettrica tramite il microscopio a forza atomica sta guadagnando terreno nella comunità scientifica legata all’AFM, in quanto in grado di rispondere, con un elevato valore aggiunto, alle nuove attività di ricerca nell’ambito sia delle nanotecnologie in...

Lunedì 05 Giugno 2017

Siamo lieti di annunciare che saremo presenti al "3rd BOLOGNA SPM WORKSHOP - SCANNING PROBE MICROSCOPY AND SPECTROSCOPY FOR MINERAL, BIOLOGICAL AND MATERIAL SCIENCES", il 14 Luglio prossimo  a Bologna.
Il workshop si terrà al Dip.to di Scienze Biologiche, Geologiche e Ambientali presso l'...

Lunedì 25 Luglio 2016
CNR - ISMN Istituto per lo Studio dei Materiali Nanostrutturati - Bologna

Dal 20 al 21 Ottobre 2016, presso il CNR - ISMN Istituto per lo Studio dei Materiali Nanostrutturati a Bologna si terrà l'evento "Science through Scanning Probe Microscopy - StSPM'16". Si tratta di un workshop organizzato dalla Società Italiana Scienze Microscopiche (...

Mercoledì 22 Giugno 2016
Nano-Observer Microscopio AFM lancia la sfida per Euro 2016!

Segui Euro 2016 con CSI e vinci!

Unisciti a CSI con le stesse passioni, per il calcio e l'AFM: prevedi i vincitori di Euro 2016, a partire dai Quarti di Finale fino alla Finale, e vinci i premi...

Martedì 31 Maggio 2016
Beetle AFM - RHK Technology

Di seguito pubblichiamo un filmato ripreso da RHK qualche giorno fa con il Beetle UHV750 HV AFM. Questo sistema è funzionalizzato solamente da una pompa a turbina. Il campione è Silicio a 500°C, misurato in modalità AFM a contatto. Ogni immagine...

Martedì 05 Aprile 2016
CSInstruments - AFM Training Courses 2016 - Nuova funzionalità AFM: Microscopia a forza magnetica laterale

Schaefer è lieta di annunciare che CSInstruments organizza un corso di formazione e aggiornamento di Microscopia a Forza Atomica per il 2016.
Il corso si terrà dal 10 al 12 Maggio 2016, presso la compagnia francese, al seguente indirizzo: 2...

Lunedì 08 Febbraio 2016
Nuove Mikromasch OPUS AFM - Optimized Positioning Upon Sample

La caratteristica principale delle nuove sonde Mikromasch OPUS™ è la tip visibility: le punte AFM OPUS™ sono posizionate esattamente all'estremità finale di ciascun cantilever con un angolo di 90 gradi, il che rende possibile il posizionamento estremamente preciso sul campione da misurare.

...
Venerdì 08 Gennaio 2016
Buon Anno da CSI Instruments - Il Risveglio della Forza Atomica

CSI e Schaefer augurano a tutti i propri clienti e ai navigatori un buon 2016!

Per l'occasione CSI Instruments, produttore del microscopio AFM Nano-Observer, prendendo spunto dall'evento cinematografico di fine 2015, ha preparato un simpatico video con il...

Martedì 13 Gennaio 2015
Punte AFM interamente in diamante - Promo su scatole con due campion

Schaefer è lieta di offrire ai propri clienti una speciale promozione per provare le punte AFM NaDia Probes della Advanced Diamond Technologies, costruite interamente in diamante. Queste punte possono vantare caratteristiche che le rendono...