Webinar GRATUITO giovedì 30 marzo 2023
Due orari disponibili
Scopri come il tuo vecchio AFM...
microscopia AFM
L'elenco degli articoli del nostro blog che parlano di microscopia AFM
Mercoledì 22 Marzo 2023
AFM Agilent 5100 e 5500 e Multimode - Nuova vita al tuo microscopio - Mantieni le modalità AFM esistenti e aggiungi nuove modalità avanzate!
Mercoledì 08 Febbraio 2023
Registrati al webinar che ti guiderà nella selezione della sonda AFM ideale per la tua applicazione! Il 15 febbraio gli esperti di Asylum approfondiranno l'argomento, fornendo informazioni utili per gli utenti AFM, sia principianti che esperti.
Anche per un utente AFM...
Lunedì 16 Gennaio 2023
La Piezoresponse Force Microscopy (PFM) è una delle tecniche più potenti per la caratterizzazione su nanoscala di materiali piezoelettrici e ferroelettrici. Nonostante molti progressi lungo gli ultimi 30 anni, è comunque rimasto difficile effettuare...
Venerdì 18 Novembre 2022
Nuovo accessorio per il Jupiter XR AFM: nanoTDDB
Abstract
Nel campo della microelettronica, i dispositivi MOSFET (transistore a semiconduttore di ossido di metallo a effetto di campo) utilizzano materiali con strato (gate) ad alta costante dielettrica k, come il biossido di afnio (HfO₂) con una costante dielettrica...
Mercoledì 19 Ottobre 2022
Presentatore del webinar: Mathieu Cognard, product manager per le applicazioni SPM.
Relatore Digital Surf: Dalia Yablon, fondatrice di SurfaceChar LLC, esperta di caratterizzazione dei materiali e nanotecnologie
In questo webinar, Digital Surg...
Martedì 31 Maggio 2022
Saremo presenti all'ottava edizione del workshop organizzato da AIT presso il Polo di Meccatronica di Rovereto (TN).
Venite a trovarci da giovedì 30 giugno a venerdì 1 luglio, vi aspettiamo per presentarvi le novità dei nostri partner nel campo della scienza delle superfici, per...
Giovedì 05 Maggio 2022
Vorresti dare un primo sguardo in esclusiva alle nuove funzionalità in arrivo con Mountains® 9.2?
Quindi iscriviti al prossimo webinar online di DigitalSurf, nel quale Alexis ti guiderà attraverso i punti salienti dell'ultima versione del software più all'avanguadia...
Giovedì 25 Febbraio 2021
Nuova application note per la riparazione di fotomaschere. Un'ottima opportunità per constatare come le punte di Adama Innovations, realizzate con singolo cristallo di diamante, possono essere utili per questa specifica applicazione.
- Riparazione di difetti -...
Mercoledì 02 Settembre 2020
Saremo presenti dal 15 al 18 di settembre alla quinta edizione di Nanoinnovation, che si terrà come ogni anno a Roma. Quest'anno il luogo in cui si terrà l'evento sarà la Facoltà di Ingegneria Civile e Industriale, Università della Sapienza di Roma, con sede in Via...
Mercoledì 05 Agosto 2020
La microscopia a forza atomica (AFM) è una tecnica particolarmente potente per la caratterizzazione di materiali 2D tra cui grafene e dicalcogenuri di metalli di transizione come il disolfuro di molibdeno (MoS2). L'AFM può misurare facilmente non solo la topografia ma anche le...
Martedì 21 Luglio 2020
Mercoledì 29 luglio 2020 16:00 - 17:00
La rugosità superficiale è una misura importante per film sottili e substrati, applicabile a una vasta gamma di applicazioni, tra cui elettroniche per semiconduttori, archiviazione dati, ottica e altri componenti in vetro, nonché...
Mercoledì 24 Giugno 2020
Argomenti chiave del webinar:
- Modalità AFM avanzate CSI – Misure elettriche
- Modalità HD-KFM mode: Concetto, vantaggi ed esempi
- La più avanzata modalità KFM single-pass (senza alzare la punta)
- Sensibilità e risoluzione...
Lunedì 18 Maggio 2020
Mercoledì 27 maggio 2020 dalle 17:00 alle 19:00 ora italiana
Un simposio online sponsorizzato da Oxford Instruments Asylum Research riguardante Applicazioni di microscopia a forza atomica AFM nella ricerca in virologia. Nel simposio interverranno quattro ricercatori,...
Lunedì 11 Maggio 2020
Galaxy Dual AFM Controller
Con il ResiScope AFM mode e il Galaxy Dual Controller
Il Controller AFM Galaxy Dual può incorporare la modalità...
Giovedì 30 Aprile 2020
Cypher VRS Video-Rate AFM
La microscopia a forza atomica (AFM) è uno strumento straordinariamente potente per la ricerca in virologia. Le tecniche di imaging ad alta risoluzione, tra cui l'AFM e la microscopia elettronica, possono facilmente fornire informazioni sulle dimensioni e sulla forma delle particelle...
Giovedì 12 Marzo 2020
The first and only full-featured video-rate AFM
Microscopia a forza atomica - AFM - a velocità video come strumento per biochimica e biofisica di singole molecole
Partecipa a questo webinar martedì 17 marzo alle 16:00
L'...
Venerdì 31 Gennaio 2020
Rocky Mountain Nanotechnology, LLC, è l'unica azienda che produce sonde AFM ultra affilate in platino e platino-iridio, per misurazioni elettriche ad alta risoluzione. Queste punte AFM possono essere utilizzate in varie modalità, tra cui tapping e contatto, e sono ideali per...
Lunedì 18 Novembre 2019
Il valore di attrito superficiale estremamente basso del grafene e di altri materiali 2D offre interessanti possibilità di utilizzo degli stessi in qualità di lubrificanti nano-sottili per applicazioni su dispositivi MEMS e NEMS di prossima generazione. La possibilità di controllare attivamente...
Mercoledì 30 Ottobre 2019
Schaefer è lieta di comunicare che sarà presente, con il partner Asylum-Oxford Instruments, all’evento "Science through Scanning Probe Microscopy 2019 - Extended Version" (StSPM19-EV), organizzato dalla società...
Giovedì 03 Ottobre 2019
Webinar Live: 16 ottobre 16:00 BST / 11:00 EDT / 08:00 PDT / 17:00 CEST
Gli strumenti di caratterizzazione odierni devono fornire informazioni su scale che arrivano a dimensioni micro o...
Lunedì 23 Settembre 2019
I nuovi substrati:
- C - Substrato senza il pad d'oro di adesione, per ridurre la capacità parassita (= alle dimensioni del substrato A)
- D - Substrato con una linea di trasmissione in oro di 200um per l'intera lunghezza del chip; il retro è completamente rivestito d'oro (chip...
Giovedì 22 Agosto 2019
Il controllo delle vibrazioni meccaniche è di fondamentale importanza in tutti quei processi in cui si richiede la massima precisione. Gli esempi più ovvi sono i molteplici campi della microscopia/imaging in cui la risoluzione ottenibile è limitata dal rumore (RMS noise), che ha...
Martedì 02 Aprile 2019
Nenovision ha portato l'analisi e la caratterizzazione di grafene e materiale 2D a un livello superiore.
Questo nuovo video mostra come viene effettuata l'analisi di materiali 2D con l'AFM-in-SEM LiteScope di Nenovision!
il...
Martedì 19 Marzo 2019
Martedì 26 marzo (Americhe), mercoledì 27 marzo (Europa), e giovedì 28 marzo (Asia e Australia) RHK presenterà in un webinar gratuito le caratteristiche uniche del controller SPM R9plus e le sue applicazioni nel campo delle nano-ottiche. (È possibile partecipare a uno qualsiasi...
Venerdì 15 Marzo 2019
Schaefer Italia annuncia l'uscita del nuovo microscopio a forza atomica (AFM) Jupiter XR, il primo e unico AFM per campioni di grandi dimensioni, in grado di offrire sia un imaging ad alta velocità che un range esteso, tutto in un singolo scanner....
Martedì 20 Giugno 2017
La caratterizzazione elettrica tramite il microscopio a forza atomica sta guadagnando terreno nella comunità scientifica legata all’AFM, in quanto in grado di rispondere, con un elevato valore aggiunto, alle nuove attività di ricerca nell’ambito sia delle nanotecnologie in...
Lunedì 05 Giugno 2017
Siamo lieti di annunciare che saremo presenti al "3rd BOLOGNA SPM WORKSHOP - SCANNING PROBE MICROSCOPY AND SPECTROSCOPY FOR MINERAL, BIOLOGICAL AND MATERIAL SCIENCES", il 14 Luglio prossimo a Bologna.
Il workshop si terrà al Dip.to di Scienze Biologiche, Geologiche e Ambientali presso l'...
Mercoledì 05 Aprile 2017
Scambia il tuo vecchio strumento e ottieni uno sconto in percentuale per l'acquisto di un nuovo microscopio AFM Nano-Observer!
Il microscopio AFM Nano-Observer ha compiuto 5 anni! Per festeggiare CSI, in collaborazione con Schaefer, offre uno...
Lunedì 05 Settembre 2016
Schaefer è lieta di presentare una lunga intervista con Craig Wall, PhD, Marketing Director in RHK Technology sul nuovo pluripremiato sistema PanScan Freedom afm-spm cryogen-free a bassa temperatura. Mr Wall in questa intervista spiega al sito AZoM.com quali sono le...
Lunedì 25 Luglio 2016
Dal 20 al 21 Ottobre 2016, presso il CNR - ISMN Istituto per lo Studio dei Materiali Nanostrutturati a Bologna si terrà l'evento "Science through Scanning Probe Microscopy - StSPM'16". Si tratta di un workshop organizzato dalla Società Italiana Scienze Microscopiche (...
Mercoledì 22 Giugno 2016
Segui Euro 2016 con CSI e vinci!
Unisciti a CSI con le stesse passioni, per il calcio e l'AFM: prevedi i vincitori di Euro 2016, a partire dai Quarti di Finale fino alla Finale, e vinci i premi...
Martedì 31 Maggio 2016
Di seguito pubblichiamo un filmato ripreso da RHK qualche giorno fa con il Beetle UHV750 HV AFM. Questo sistema è funzionalizzato solamente da una pompa a turbina. Il campione è Silicio a 500°C, misurato in modalità AFM a contatto. Ogni immagine...
Mercoledì 11 Maggio 2016
Dal 6 al 10 Giugno 2016 Schaefer organizza un roadshow attraverso l'Italia per promuovere lo strumento DHM-R della Lyncèe Tec, un microscopio Olografico Digitale, per l’acquisizione 3D in tempo reale con risoluzione nanometrica. Lo strumento in demo sarà corredato anche di un add-on per la...
Martedì 05 Aprile 2016
Schaefer è lieta di annunciare che CSInstruments organizza un corso di formazione e aggiornamento di Microscopia a Forza Atomica per il 2016.
Il corso si terrà dal 10 al 12 Maggio 2016, presso la compagnia francese, al seguente indirizzo: 2...
Lunedì 08 Febbraio 2016
La caratteristica principale delle nuove sonde Mikromasch OPUS™ è la tip visibility: le punte AFM OPUS™ sono posizionate esattamente all'estremità finale di ciascun cantilever con un angolo di 90 gradi, il che rende possibile il posizionamento estremamente preciso sul campione da misurare.
...Venerdì 08 Gennaio 2016
CSI e Schaefer augurano a tutti i propri clienti e ai navigatori un buon 2016!
Per l'occasione CSI Instruments, produttore del microscopio AFM Nano-Observer, prendendo spunto dall'evento cinematografico di fine 2015, ha preparato un simpatico video con il...
Mercoledì 21 Ottobre 2015
Schaefer e il tem di RHK Technology sono felici di annunciare il lancio della nuovo PanScan Freedom System a 9K! I clienti ora potranno scegliere tra la versione a 15K e a 9K dei sistemi SPM senza liquido criogenico.
Martedì 13 Ottobre 2015
Il vostro partner in nanotecnologia e leader nell'innovazione per quanto riguarda i sistemi di controllo SPM vi invita a partecipare al webinar della serie Coffee Talk.
Sapevato che è possibile avvantaggiarsi della flessibilità del controller R9 per raccogliere molte più misurazioni in un...
Martedì 15 Settembre 2015
Un nuovo video su YouTube illustra nei minimi dettagli il funzionamento del microscopio AFM Nano-Observer, prodotto da CSI Instruments. Ora lo strumento si rivela ancor più facile da utilizzare, grazie al controllo touch-screen. disponibile per pc,...
Mercoledì 04 Marzo 2015
Schaefer è lieta di annunciare che dal 13 al 17 Aprile saremo impegnati in un roadshow attraverso l'Italia per presentare e far provare il nuovo microscopio STM/AFM Nano Observer di CSI Instruments. Il microscopio STM/AFM della casa francese CSI Instruments è lo...
Martedì 13 Gennaio 2015
Schaefer è lieta di offrire ai propri clienti una speciale promozione per provare le punte AFM NaDia Probes della Advanced Diamond Technologies, costruite interamente in diamante. Queste punte possono vantare caratteristiche che le rendono...