Oxford NanoAnalysis
Providing leading-edge tools for SEM, TEM & FIB
Oxford Instruments NanoAnalysis fornisce strumenti all'avanguardia che consentono la caratterizzazione dei materiali e la manipolazione dei campioni su scala nanometrica.
Utilizzando microscopi elettronici (SEM e TEM) e sistemi a fascio ionico (FIB), gli strumenti OIN sono si applicano nella ricerca e nello sviluppo in un'ampia gamma di applicazioni accademiche e industriali tra cui:
- Manifattura additiva
- Mineralogia automatizzata
- Materiali per batterie
- Microscopia correlativa
- Residui da sparo
- Analisi EDS ad alta temperatura
- Incertezze non metalliche
- Analisi delle particelle
- Applicazioni farmaceutiche
- Pulizia tecnica