CS Instruments e Schaefer SEE organizzano un demo tour in Italia per presentare il Galaxy Dual per Multimode e il nuovo AFM Nano-Observer II.
Regalate una seconda vita al vostro AFM: il Galaxy Dual Controller rinnova e migliora le...
Imaging 3D
L'elenco degli articoli del nostro blog che parlano di Imaging 3D
Venerdì 16 Febbraio 2024
Domenica 26 Novembre 2023
Con grande entusiasmo, vi invitiamo al prossimo webinar dedicato alla presentazione dell'ultima innovazione in casaTomocube: TomoAnalysis v1.7.
TomoAnalysis è un software di analisi delle immagini olotomografiche che offre una serie di procedure personalizzabili di...
Lunedì 06 Novembre 2023
Transizione energetica e sostenibilità ambientale: Materiali, processi e dispositivi per la ricerca e le applicazioni industriali
Schaefer parteciperà alla XXVI Conferenza dell'Associazione Italiana del Vuoto (AIV), che si terrà a Roma dal 7 al 10 novembre 2023. L'evento...
Martedì 19 Settembre 2023
Il Nanoinnovation 2023 è un punto di riferimento consolidato per la comunità delle nanotecnologie e delle relative applicazioni; offre uno spazio vitale per la condivisione di idee e l'interazione tra accademici, scienziati, ricercatori e professionisti di diversi settori.
...
Lunedì 28 Agosto 2023
Saremo presenti alla 35ª edizione di Eurosensors, la rinomata conferenza internazionale dedicata alla ricerca teorica e applicata nel campo dei sensori e dei micro-nanosistemi. L'evento, che avrà luogo dal 10 al 13 settembre, rappresenterà l'occasione...
Lunedì 22 Maggio 2023
Sei interessato a diventare esperto di caratterizzazione di superfici molto lisce (super smooth)?
Le superfici molto lisce sono fondamentali in vari settori, poiché garantiscono prestazioni e precisione di prim'ordine. Dal...
Mercoledì 08 Febbraio 2023
Registrati al webinar che ti guiderà nella selezione della sonda AFM ideale per la tua applicazione! Il 15 febbraio gli esperti di Asylum approfondiranno l'argomento, fornendo informazioni utili per gli utenti AFM, sia principianti che esperti.
Anche per un utente AFM...
Lunedì 16 Gennaio 2023
La Piezoresponse Force Microscopy (PFM) è una delle tecniche più potenti per la caratterizzazione su nanoscala di materiali piezoelettrici e ferroelettrici. Nonostante molti progressi lungo gli ultimi 30 anni, è comunque rimasto difficile effettuare...
Venerdì 18 Novembre 2022
Nuovo accessorio per il Jupiter XR AFM: nanoTDDB
Abstract
Nel campo della microelettronica, i dispositivi MOSFET (transistore a semiconduttore di ossido di metallo a effetto di campo) utilizzano materiali con strato (gate) ad alta costante dielettrica k, come il biossido di afnio (HfO₂) con una costante dielettrica...
Mercoledì 16 Novembre 2022
Aula Bottazzi - Università della Campania - Sant'Andrea delle Dame - Via L. De Crecchio 7, 80138 Napoli
OBIETTIVI DELLA CONFERENZA
La tecnologia inerente gli organoidi rappresenta attualmente uno strumento fondamentale sia per la ricerca di base che per quella traslazionale.
Il potenziale degli organoidi per ricapitolare...
Giovedì 27 Ottobre 2022
Sensofar ha allestito un evento premium per presentare le due nuove teste che andranno ad arricchire la linea di teste integrabili!
...Giovedì 15 Settembre 2022
Epifluorescenza di PVDF e PLA colorato con rosso Nilo in Aurelia sp. meduse ephyrae acquisite insieme all'olotomogramma. Entrambi i materiali (colore rosso che rappresenta il canale di fluorescenza; indice di rifrazione 1,42 per PVDF e 1,4 per PLA) sono localizzati all'interno del corpo gelatinoso (intervallo di indice 1,355–1,378) dopo 24 ore di esposizione. Le barre equivalgono a 30 μm.
È appena uscito un nuovo articolo,, il risultato dell'attività svolta nel novembre 2021, grazie alla collaborazione tra CNR-ISMAR (UOS di Genova) e Schaefer South-East Europe, in cui il Tomocube HT-2H è stato utilizzato per fare imaging olotomografico sui campioni. Il titolo tradotto recita: "...
Giovedì 25 Agosto 2022
In questo webinar verranno mostrate alcune delle funzionalità disponibili nel software MountainsSpectral® (di Digital Surf). Il webinar è rivolto agli utenti del software, a chiunque lo stia provando e, più in generale, a chiunque lavori con dati provenienti da tecniche spettroscopiche o esegua...
Giovedì 21 Luglio 2022
Questa tecnologia rivoluzionaria consente l'imaging di cellule vive 3D e 4D label-free utilizzando piastre multipozzetto di imaging standard, per applicazioni di screening automatizzate, con una produttività più elevata
Un nuovo microscopio ottico che utilizza una sorgente di luce...
Lunedì 06 Giugno 2022
Analisi full-field della forma sottoposta a vibrazione e del transitorio
- AnalizzatoreMEMS Non-Scanning
- Mappe di vibrazione con milioni di punti dati
- Risoluzione picometrica della vibrazione
- In- and out-...
Martedì 31 Maggio 2022
Saremo presenti all'ottava edizione del workshop organizzato da AIT presso il Polo di Meccatronica di Rovereto (TN).
Venite a trovarci da giovedì 30 giugno a venerdì 1 luglio, vi aspettiamo per presentarvi le novità dei nostri partner nel campo della scienza delle superfici, per...
Lunedì 23 Maggio 2022
Da mercoledì 8 a venerdì 10 giugno ci trovate al congresso Stem Cell Research Italy presso l'Università di Genova, in via Balbi 5.
Il convegno ha come argomento di discussione principale la ricerca scientifica nel campo delle cellule staminali.
...
Mercoledì 16 Marzo 2022
Nuova pubblicazione scientifica: le alterazioni nei globuli rossi infettati da Plasmodium knowlesi vengono studiate utilizzando il microscopio olotomografico HT-1H di TOMOCUBE, INC. L'articolo è pubblicato su BMC Parasites & Vectors.
Riportiamo integralmente l'abstract:
...Mercoledì 29 Settembre 2021
Dal 4 al 9 ottobre 2021 a Milano si svolge l'evento più atteso dell'anno in Europa per l'industria manifatturiera!
Sensofar e Schaefer saranno presenti, con i profilometri ottici 3D di più recente produzione.
Tutti i visitatori del nostro stand...
Martedì 28 Settembre 2021
30/09/2021 - Webinar Tomocube sull'olotomografia: ricerca con l'HT sulla plastica biodegradabile PHA
I poliidrossialcanoati (PHA) sono poliesteri biodegradabili accumulati sotto forma di granuli insolubili all'interno di alcuni microrganismi e considerati sostituti sostenibili, e rispettosi dell'ambiente, per le plastiche a base di petrolio. Nonostante i...
Giovedì 17 Giugno 2021
Finitura superficiale misurata mediante microscopia olografica digitale (DHM®)
Dai primi lavori pioneristici nel 1999...
Letture suggerite: Optics Letters (Vol. 24, No. 5) e ...
Mercoledì 19 Maggio 2021
Giovedì 3 giugno:
- Ore 10.00
- Ore 18:00
La produzione additiva è diventata, in tempi brevi, un processo consolidato in molte aree della produzione.
Le progettazioni complesse, con funzionalità migliorative, sono facilmente realizzate...
Lunedì 10 Maggio 2021
Sensofar S neox
Sensofar ha sostanzialmente migliorato le prestazioni dello strumento S neox: il profilometro ottico top di gamma della Sensofar è ora ancor più performante per quanto riguarda i processi di automazione della misura e l'usabilità/maneggevolezza. Anche il pacchetto di convalida del sistema, che...
Giovedì 29 Aprile 2021
È disponibile la registrazione del webinar.
Fino ad ora, l'imaging piastrinico si limitava a concentrarsi principalmente sulla morfologia. La tecnologia olotomografica (HT) di Tomocube offre una nuova prospettiva alla ricerca piastrinica fornendo...
Giovedì 25 Febbraio 2021
Nuova application note per la riparazione di fotomaschere. Un'ottima opportunità per constatare come le punte di Adama Innovations, realizzate con singolo cristallo di diamante, possono essere utili per questa specifica applicazione.
- Riparazione di difetti -...
Lunedì 18 Gennaio 2021
Riuscire a vedere l'LLPS (separazione della fase liquida liquida) tramite l'olotomografia di Tomocube ha suscitato l'interesse di molti ricercatori.
La possibilità di vedere l'LLPS in tempo reale, con lo strumento HT di Tomocube, è ben descritta nella pubblicazione di Choi et. al. dal...
Lunedì 11 Gennaio 2021
Schaefer distribuisce le piattaforme antivibranti di Daeil Systems. Daeil è un'azienda coreana che fornisce un'ampia gamma di sistemi di isolamento dalle vibrazioni, con grandi quantità di tavoli ottici venduti e installati in tutto il mondo, sistemi di isolamento passivi e attivi. I clienti...
Martedì 20 Ottobre 2020
Vista la complessità che contraddistingue la metrologia ottica di superficie, Sensofar ha creato un poster-documento che aiuterà gli utilizzatori del profilometro ottico 3D S Neox...
Mercoledì 02 Settembre 2020
Saremo presenti dal 15 al 18 di settembre alla quinta edizione di Nanoinnovation, che si terrà come ogni anno a Roma. Quest'anno il luogo in cui si terrà l'evento sarà la Facoltà di Ingegneria Civile e Industriale, Università della Sapienza di Roma, con sede in Via...
Mercoledì 05 Agosto 2020
La microscopia a forza atomica (AFM) è una tecnica particolarmente potente per la caratterizzazione di materiali 2D tra cui grafene e dicalcogenuri di metalli di transizione come il disolfuro di molibdeno (MoS2). L'AFM può misurare facilmente non solo la topografia ma anche le...
Martedì 21 Luglio 2020
Mercoledì 29 luglio 2020 16:00 - 17:00
La rugosità superficiale è una misura importante per film sottili e substrati, applicabile a una vasta gamma di applicazioni, tra cui elettroniche per semiconduttori, archiviazione dati, ottica e altri componenti in vetro, nonché...
Lunedì 22 Giugno 2020
La ISO 25178 è considerata una delle pietre miliari principali nella caratterizzazione della struttura superficiale 3D. Si basa sul principio che la natura è intrinsecamente tridimensionale. È...
Martedì 09 Giugno 2020
Mar 11 giugno 2020 10:00 - 11:00
Mar 11 giugno 2020 18:00 - 19:00
In questo webinar aumenterai le tue conoscenze sulla caratterizzazione della rugosità, passando dall'analisi Ra, ottenuta lo stilo a contatto, all'analisi ottica Sa...
Giovedì 30 Aprile 2020
Cypher VRS Video-Rate AFM
La microscopia a forza atomica (AFM) è uno strumento straordinariamente potente per la ricerca in virologia. Le tecniche di imaging ad alta risoluzione, tra cui l'AFM e la microscopia elettronica, possono facilmente fornire informazioni sulle dimensioni e sulla forma delle particelle...
Sabato 18 Aprile 2020
Mercoledì 22 aprile 2020 - dalle 10 alle 11
La progettazione e la produzione di strumenti/utensili influiscono direttamente sulla qualità della produzione industriale su larga scala, rivolta agli utenti finali. Inoltre, i requisiti metrologici nel mercato degli strumenti/utensili sono...
Venerdì 03 Aprile 2020
Sensofar S Wide - Large area 3D optical profilometer
Mercoledì 8 aprile 2020 - dalle 10:00 alle 11:00
Presentato da: Carles Otero e Sandra de Pedro
Scopri il nuovo eccezionale profilometro...
Venerdì 07 Febbraio 2020
Nuovo record mondiale!
Una nuova pietra miliare è stata raggiunta nel campo delle misurazioni della topografia 3D ultraveloce con la consegna al Professor James Friends, Università della California di San Diego, di un DHM T1000 dotato di una...
Venerdì 31 Gennaio 2020
Rocky Mountain Nanotechnology, LLC, è l'unica azienda che produce sonde AFM ultra affilate in platino e platino-iridio, per misurazioni elettriche ad alta risoluzione. Queste punte AFM possono essere utilizzate in varie modalità, tra cui tapping e contatto, e sono ideali per...
Lunedì 13 Gennaio 2020
PROMOZIONE TERMINATA - Tutti gli strumenti in promozione sono stati venduti
Occasione di inizio anno: 2 profilometri ottici 3D (Sensofar e GBS Ilmenau) e un SEM da banco (Emcrafts) di recentissima produzione. Mai installati...
Sabato 14 Settembre 2019
Il nuovo profilometro ottico 3D S neox Five Axis combina, alla stessa maniera del modello precedente, il modulo rotazionale ad alta precisione, la piattaforma di traslazione ad alta risoluzione e capacità avanzate di ispezione e analisi. Include inoltre eccezionali ...
Giovedì 30 Maggio 2019
GBS ILmenau ha esposto i suoi profilometri ottici 3D non contatto, da banco e in linea, al Control Show di Stoccarda, all'inizio di Maggio. Come molti suoi competitor presenti alla fiera, l'obiettivo era quello di dimostrare ai visitatori le caratteristiche uniche dei suoi...
Lunedì 29 Aprile 2019
Dal 21 al 23 maggio 2019
Ospedale San Raffaele - Via Olgettina, 48 – 20132 Milano
Tre giorni di studio e prove pratiche dedicati alle tecnologie olografiche applicate ai campioni biologici
...Martedì 02 Aprile 2019
Nenovision ha portato l'analisi e la caratterizzazione di grafene e materiale 2D a un livello superiore.
Questo nuovo video mostra come viene effettuata l'analisi di materiali 2D con l'AFM-in-SEM LiteScope di Nenovision!
il...
Mercoledì 20 Marzo 2019
Il video riprende una fase di apoptosi indotta da TNFα. Le cellule di NIH3T3 sono state riprese dal vivo e in continuo con un HT-2H. I tomogrammi 3D sono stati raccolti ogni 5 minuti per un massimo di 2 ore.
Lunedì 18 Febbraio 2019
Schaefer Italia è lieta di annunciare il lancio da parte di Sensofar Metrology della quinta generazione del loro profilometro ottico di punta. L'S neox è un sistema di microscopia completo per profilometria ottica 3D a non contatto dalle altissime prestazioni, progettato...
Martedì 24 Aprile 2018
La qualità e velocità della linea smartWLI è ora disponibile anche per misure su linee di produzione. Grazie agli obiettivi ad alta velocità e al calcolo in tempo reale delle schede grafiche, l'interferometria in luce bianca di GBS permette risoluzioni in altezza di 0.1...
Lunedì 12 Giugno 2017
Sensofar Metrology ha sviluppato un nuovo e innovativo software per i loro sistemi di misura della struttura superficiale in 3D, per i modelli 3-in-1 della linea S. Due nuove tecniche di misura – Confocal Fusion e Continuous Confocal – rappresentano nuovi sviluppi molto...
Lunedì 27 Marzo 2017
La Confocal Fusion e la Continuous Confocal sono due nuove tecnologie di acquisizione per metrologia di superficie in 3D sviluppate da Sensofar che si basano sull'esistente linea di Hardware "S". Per i sistemi della linea "S"...
Martedì 05 Aprile 2016
Schaefer è lieta di annunciare che CSInstruments organizza un corso di formazione e aggiornamento di Microscopia a Forza Atomica per il 2016.
Il corso si terrà dal 10 al 12 Maggio 2016, presso la compagnia francese, al seguente indirizzo: 2...
Lunedì 08 Febbraio 2016
La caratteristica principale delle nuove sonde Mikromasch OPUS™ è la tip visibility: le punte AFM OPUS™ sono posizionate esattamente all'estremità finale di ciascun cantilever con un angolo di 90 gradi, il che rende possibile il posizionamento estremamente preciso sul campione da misurare.
...Venerdì 08 Gennaio 2016
CSI e Schaefer augurano a tutti i propri clienti e ai navigatori un buon 2016!
Per l'occasione CSI Instruments, produttore del microscopio AFM Nano-Observer, prendendo spunto dall'evento cinematografico di fine 2015, ha preparato un simpatico video con il...
Lunedì 26 Ottobre 2015
Durante l'ultimo resoconto dell'Aluminum Anodizers Annual Conference & Exhibition (Pittsburgh, 2014), l'articolo presentato da Sensofar dal titolo "Using optical areal measurement methods to assess the surface shape and texture on aluminium anodized surfaces" ha ricevuto il premio Robert L....
Mercoledì 04 Marzo 2015
Schaefer è lieta di annunciare che dal 13 al 17 Aprile saremo impegnati in un roadshow attraverso l'Italia per presentare e far provare il nuovo microscopio STM/AFM Nano Observer di CSI Instruments. Il microscopio STM/AFM della casa francese CSI Instruments è lo...
Lunedì 02 Febbraio 2015
Tutti i vantaggi dell'LT, Nessuno dei limiti
PanScan Freedom permette una performance di imaging con bassissimo rumore (<1 pm), con il criostato in funzione. Anche ambienti rumorosi non compromettono le performance,...