scienza dei materiali

L'elenco degli articoli del nostro blog che parlano di scienza dei materiali

Venerdì 19 Maggio 2023
Webinar online: Applicazioni di tecnologia a microonde ad alta temperatura per la lavorazione della ceramica

Esplora l'offerta scientifica e tecnologica di SAIREM sulla lavorazione della ceramica.

Questo webinar sarà presentato da 3 partner di Sairem su 3 diversi argomenti. Ognuno di loro avrà 20 minuti per presentare il proprio lavoro, con una sessione di domande e risposte di...

Mercoledì 22 Marzo 2023
Galaxy Dual Controller - Webinar Online

AFM Agilent 5100 e 5500 e Multimode - Nuova vita al tuo microscopio - Mantieni le modalità AFM esistenti e aggiungi nuove modalità avanzate!

Webinar GRATUITO giovedì 30 marzo 2023

Due orari disponibili 

Scopri come il tuo vecchio AFM...

Lunedì 16 Gennaio 2023
 The Future of Quantitative PFM

 

La Piezoresponse Force Microscopy (PFM) è una delle tecniche più potenti per la caratterizzazione su nanoscala di materiali piezoelettrici e ferroelettrici. Nonostante molti progressi lungo gli ultimi 30 anni, è comunque rimasto difficile effettuare...

Mercoledì 19 Ottobre 2022
Webinar - Analisi delle curve di forza AFM con MountainsSPIP® - Digital Surf

Presentatore del webinar: Mathieu Cognard, product manager per le applicazioni SPM.

Relatore Digital Surf: Dalia Yablon, fondatrice di SurfaceChar LLC, esperta di caratterizzazione dei materiali e nanotecnologie

In questo webinar, Digital Surg...

Giovedì 25 Agosto 2022

In questo webinar verranno mostrate alcune delle funzionalità disponibili nel software MountainsSpectral® (di Digital Surf). Il webinar è rivolto agli utenti del software, a chiunque lo stia provando e, più in generale, a chiunque lavori con dati provenienti da tecniche spettroscopiche o esegua...

Giovedì 10 Febbraio 2022
Sensofar presenta la nuova linea di teste integrabili in linea di profilometri ottici 3D

È disponibile la linea Sensofar di teste di misura Integrabili

Sensofar Metrology, con più di 20 anni di esperienza nello sviluppo di sistemi di metrologia ottica di superficie, lancia una nuova linea di teste di misura integrabili a quattro...

Lunedì 07 Febbraio 2022
Microscopio Digitale DMPX 8X ZOOM - Sorprendente qualità dell'immagine - A partire da 2.200,00 €!

Il microscopio digitale DMPX 8X ZOOM fornisce immagini di alta qualità a un prezzo accessibile con tutte le funzioni necessarie per misurazioni di precisione, acquisizione di immagini, documentazione e generazione di report tracciabili, caratteristiche richieste dalle...

Mercoledì 29 Settembre 2021
 4-9 ottobre 2021 - EMO MILANO 2021 - Vieni a provare i profilometri ottici Sensofar!

Dal 4 al 9 ottobre 2021 a Milano si svolge l'evento più atteso dell'anno in Europa per l'industria manifatturiera!

Sensofar e Schaefer saranno presenti, con i profilometri ottici 3D di più recente produzione.

Tutti i visitatori del nostro stand...

Mercoledì 19 Maggio 2021
Webinar 3 giugno 2021 - In che modo la misura 3D senza contatto della superficie può migliorare il processo di produzione additiva

Giovedì 3 giugno:

  • Ore 10.00
  • Ore 18:00

La produzione additiva è diventata, in tempi brevi, un processo consolidato in molte aree della produzione.
Le progettazioni complesse, con funzionalità migliorative, sono facilmente realizzate...

Lunedì 10 Maggio 2021
Il profilometro 3D top di gamma S neox di Sensofar

Sensofar S neox

Sensofar ha sostanzialmente migliorato le prestazioni dello strumento S neox: il profilometro ottico top di gamma della Sensofar è ora ancor più performante per quanto riguarda i processi di automazione della misura e l'usabilità/maneggevolezza. Anche il pacchetto di convalida del sistema, che...

Lunedì 16 Novembre 2020
Case study: uno strumento accurato, veloce e facile da usare per studiare un nuovo metodo di texturing superficiale 3D

S lynx - Compact 3D surface profiler

Date un'occhiata a questo case study:: "Reducing Friction for Efficient Motion of Sliding Surfaces by Laser Surface Texturing".

Di seguito riassumiamo gli argomenti principali di questo interessante articolo., invitandovi alla lettura del pezzo completo (vedi link qui sotto).

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Mercoledì 05 Agosto 2020
Webinar 19 agosto 2020: caratterizzazione di materiali bidimensionali tramite la microscopia AFM a forza atomica

La microscopia a forza atomica (AFM) è una tecnica particolarmente potente per la caratterizzazione di materiali 2D tra cui grafene e dicalcogenuri di metalli di transizione come il disolfuro di molibdeno (MoS2). L'AFM può misurare facilmente non solo la topografia ma anche le...

Martedì 21 Luglio 2020
Webinar - Misurazione della rugosità superficiale di film sottili e substrati tramite microscopia a forza atomica

Mercoledì 29 luglio 2020 16:00 - 17:00

La rugosità superficiale è una misura importante per film sottili e substrati, applicabile a una vasta gamma di applicazioni, tra cui elettroniche per semiconduttori, archiviazione dati, ottica e altri componenti in vetro, nonché...

Giovedì 23 Aprile 2020
Webinar 29/04/2020: tecniche di metrologia ottica, la MasterClass!

Mercoledì 29 aprile 2020 dalle 10:00 alle 11:00

Al culmine di un incredibile mese con i webinar Sensofar sulla metrologia ottica 3D, ti invitiamo a partecipare alla Master Class sulle tecnologie Sensofar, in programma la prossima settimana!

Durante...

Venerdì 03 Aprile 2020

Sensofar S Wide - Large area 3D optical profilometer

Mercoledì 8 aprile 2020 - dalle 10:00 alle 11:00

Presentato da: Carles Otero e Sandra de Pedro

Scopri il nuovo eccezionale profilometro...

Martedì 08 Ottobre 2019
21-23/10/2019 Roadshow – Dimostrazioni on-site del SEM da banco Cube II

Dimostrazioni pratiche del tabletop SEM Cube II in anteprima Europea.

Il Cube II è un SEM da banco dalle elevate prestazioni con un design elegante e compatto, semplice ed intuitivo, in grado di offrire ingrandimento X300K e 5nm di risoluzione (@30KV)....

Lunedì 23 Settembre 2019
Tre nuovi substrati per le sonde AFM ultra-sharp RMNano in Platino e Platino-Iridio!

I nuovi substrati:

  • C - Substrato senza il pad d'oro di adesione, per ridurre la capacità parassita (= alle dimensioni del substrato A)
  • D - Substrato con una linea di trasmissione in oro di 200um per l'intera lunghezza del chip; il retro è completamente rivestito d'oro (chip...
Sabato 14 Settembre 2019
S neox Five Axis 3D optical profilometer 2019 - Product Release

Il nuovo profilometro ottico 3D S neox Five Axis combina, alla stessa maniera del modello precedente, il modulo rotazionale ad alta precisione, la piattaforma di traslazione ad alta risoluzione e capacità avanzate di ispezione e analisi. Include inoltre eccezionali ...

Lunedì 16 Aprile 2018
Profilometro ottico S Neox Five Axis - La soluzione Sensofar per la misura in Full 3D

Sensofar Metrology ha annunciato una new entry nella sua gamma di sistemi per metrologia di superficie in 3D a non contatto: il "Five Axis". Il nuovo profilometro ottico 3D unisce un modulo rotazionale ad alta precisione  e una piattaforma translazionale ad alta risoluzione,...

Venerdì 23 Febbraio 2018
Nanomechanics roadshow 6-8 Marzo 2018

Schaefer è lieta di annunciare che dal 6 all'8 marzo prossimo sarà in italia Bryan Crawford, tecnico Nanomechanics, ingegnere specializzato in test sui materiali. Si tratta di un'ottima...

Mercoledì 15 Novembre 2017
Sensofar Webinar - SensoSCAN 6.4 - Software Profilometria 3D 28 Nov. 2017 11:00 - 11:40

Quando: martedì 28 novembre 2017, ore 11 e ore 18

Schaefer Italia vi invita a partecipare al webinar riguardante il lancio della nuova versione, 6.4, del software SensoSCAN.
 
In questa versione sono diverse le novità, che riguardano queste sezioni: Ispezione...

Martedì 01 Agosto 2017
Smart WLI prime

Schaefer SEE srl ha il piacere di informare che il profilometro interferometrico in luce bianca mod. Smart WLI –prime è presente in demo nella sede operativa di Genova.

Per una ricostruzione 3D altamente accurata della superficie di campioni per lo studio...

Lunedì 03 Luglio 2017
Workshop: State of the art in 3D Surface Metrology - Rovigo - July 26, 2017

Schaefer South-East Europe Srl è lieta di annunciare lo svolgimento di un workshop sulla profilometria in 3D (Metrologia di Superficie in 3D),  in collaborazione con Sensofar, che si terrà alla fine di Luglio a Rovigo, dal titolo "State of the art in...

Lunedì 12 Giugno 2017
Nuove tecnologie per la misura della struttura superficiale: Confocal Fusion e Continuous Confocal - Webinar

Sensofar Metrology ha sviluppato un nuovo e innovativo software per i loro sistemi di misura della struttura superficiale in 3D, per i modelli 3-in-1 della linea S. Due nuove tecniche di misura – Confocal Fusion e Continuous Confocal – rappresentano nuovi sviluppi molto...

Mercoledì 07 Dicembre 2016

Schaefer SEE organizza un evento il giorno 20 Dicembre p.v. a partire dalle ore 10, a Pisa presso il Laboratorio NEST della Scuola Normale Superiore, durante il quale verrà presentato il Microscopio Olografico Digitale DHM® prodotto da Lyncee-Tec e le applicazioni di profilometria 4D rese...

Mercoledì 08 Giugno 2016
Metrologia di superficie in linea ad alta velocità con il Sensofar S onix

Sensofar ha messo a catalogo un nuovo sensore di superficie 3D ad alta velocità – il modello S onix. Il modello S onix è un nuovo e ultracompatto sistema di metrologia di superficie progettato appositamente per processi di misurazione in linea ad alta velocità, e per controlli...

Mercoledì 11 Maggio 2016
Microscopio Olografico Digitale DHM-R

Dal 6 al 10 Giugno 2016 Schaefer organizza un roadshow attraverso l'Italia per promuovere lo strumento DHM-R della Lyncèe Tec, un microscopio Olografico Digitale, per l’acquisizione 3D in tempo reale con risoluzione nanometrica. Lo strumento in demo sarà corredato anche di un add-on per la...

Lunedì 02 Maggio 2016
Nanomechanics iNano Nanoindenter

Abbiamo messo in vendita la nostra unità demo dell'iNano Nanomechanics, a un prezzo molto vantaggioso. Se siete interessati a questa opportunità, potete ottenere ulteriori informazioni contattandoci qui.

Il nanoindentatore iNano™ è uno...

Mercoledì 09 Marzo 2016
Logo MECSPE

Schaefer sarà presente all'edizione 2016 del MECSPE a Parma.
Nell'ambito delle nanotecnologie l'Ing Paolo Bariani di Schaefer terrà due presentazioni. Date e orari sono riportati in fondo a questa news.

La prima presentazione sarà Giovedì 17 e riguarderà la nanoindentazione...

Martedì 09 Febbraio 2016
Sensofar S Lynx 3D profilometro 3D non contatto

Grandi novità da Sensofar, produttore leader nell'ambito della strumentazione per la metrologia ottica. È stata da poco annunciata dalla casa spagnola l'uscita di un nuovo profilometro ottico 3D, il modello S Lynx. Questo strumento è il risultato di 14 anni di...

Mercoledì 04 Marzo 2015
Microscopio STM/AFM Nano Observer - CSI Instruments

Schaefer è lieta di annunciare che dal 13 al 17 Aprile saremo impegnati in un roadshow attraverso l'Italia per presentare e far provare il nuovo microscopio STM/AFM Nano Observer di CSI Instruments. Il microscopio STM/AFM della casa francese CSI Instruments è lo...

Martedì 16 Dicembre 2014
La pubblicazione che ha vinto il Premio Robert W. Cahn per il 2014

Siamo lieti di annunciare che il vincitore del premio Robert W. Cahn (riconoscimento organizzato dal Journal of Materials Science) come miglior pubblicazione del 2014, va al paper Mechanical...