Kelvin Force Microscopy

L'elenco degli articoli del nostro blog che parlano di Kelvin Force Microscopy

Lunedì 06 Novembre 2023
Schaefer presenta le sue ultime novità alla XXVI Conferenza dell'Associazione Italiana del Vuoto a Roma
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Alto Vuoto - HV, controllore di flusso, controllori di flusso, conversione di flusso di massa, eventi, Film sottili, flussimetri, flussimetro, flusso di massa, Grafene, Imaging 3D, Imaging AFM ad alta temperatura, Kelvin Force Microscopy, metrologia di superficie in linea, microfluidica, microscopia a scansione di sonda, microscopia AFM, misure 3D, nanomateriali, profilometria, profilometria 3D, profilometria ottica, profilometro non contatto, Profilometro ottico, punte AFM, range di flusso di gas, range di flusso massico, rhk technology, SEM - Microscopia elettronica a scansione, Sensore di vuoto, Sensori di vuoto in termocoppia, spm, teledyne hastings, Ultra Alto Vuoto - UHV, vuotometri

Transizione energetica e sostenibilità ambientale: Materiali, processi e dispositivi per la ricerca e le applicazioni industriali

Schaefer parteciperà alla XXVI Conferenza dell'Associazione Italiana del Vuoto (AIV), che si terrà a Roma dal 7 al 10 novembre 2023. L'evento...

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Lunedì 11 Maggio 2020
Caratterizzazione elettrica per i tuoi AFM/STM Agilent: 5100/ 5500/ MultiMode
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accessori AFM, caratterizzazione meccanica, Kelvin Force Microscopy, microscopia a scansione di sonda, microscopia AFM, punte AFM, scienza dei materiali, sistemi di controllo spm, spettroscopia a effetto tunnel, spm
Caratterizzazione elettrica per i tuoi AFM/STM Agilent: 5100/ 5500/ Multimodebases

Galaxy Dual AFM Controller

Con il ResiScope AFM mode e il Galaxy Dual Controller

Il Controller AFM Galaxy Dual può incorporare la modalità...

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Martedì 20 Giugno 2017
Microscopio a forza di sonda Kelvin Force ad elevata definizione: BIMODAL HD-KFM
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accessori AFM, Kelvin Force Microscopy, microscopia a scansione di sonda, microscopia AFM, punte AFM, spettroscopia a effetto tunnel, spm
High Definiton Kelvin Force Microscopy - BIMODAL HD-KFM

La caratterizzazione elettrica tramite il microscopio a forza atomica sta guadagnando terreno nella comunità scientifica legata all’AFM, in quanto in grado di rispondere, con un elevato valore aggiunto, alle nuove attività di ricerca nell’ambito sia delle nanotecnologie in...

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