Il Blog di Schaefer

Le notizie di questa sezione riguardano nuovi prodotti a catalogo, e novità nell'ambito delle nanotecnologie e dei sistemi di misurazione, vacuometri e flussimetri.

Ultime News

Venerdì 16 Marzo 2012

SPIP6 - The best has just gotten better

SPIP™6 di Image Metrology, lo standard nell'elaborazione di immagini su scala nanometrica, è disponibile per il download, anche nella trial version.

Alcune delle principali nuove caratteristiche:

  • Interfaccia completamente basata su Ribbons
    Avrete a disposizione...

Lunedì 05 Marzo 2012

Smart WLI Basic & Extended

Abbiamo pubblicato, nella scheda dello SMartWLI family, il pdf con tutta la linea di produzione della GBS. Potrete così avere una prima idea delle funzionalità offerte da questi strumenti, macchine estremamente performanti e dalla convenienza imbattibile. L'interferometri a luce bianca...

Lunedì 27 Febbraio 2012

La data ultima utile di presentazione degli abstract per contribuire alla Conferenza Internazionale su Pellicole e Superfici Solide, ICSFS 16, che si terrà a Genova, Italia, tra il 1° e il 6 di Luglio 2012, è stata prorogata al 9 Marzo p.v., entro la mezzanotte.

Si precisa che è...

Martedì 21 Febbraio 2012

DHM R2200 series

Schaefer SEE sarà presente alla decima conferenza internazionale sulla misurazione laser delle vibrazioni ad Ancona. Saremo presenti nella sezione espositori, con il nostro fornitore Lyncée Tec. Sarà il momento opportuno per vedere in azione la strumentazione della casa svizzera, con le novità,...

Lunedì 20 Febbraio 2012

Universal Testing Machine UTM-150 Agilent

Abbiamo appena aggiornato la scheda tecnica dell'UTM 150 Universal Testing Machine della Agilent Technologies. Informazioni più accurate sul sistema, sulle caratteristiche tecniche, su quanto viene fornito insieme allo strumento.

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