Oxford NanoAnalysis

Providing leading-edge tools for SEM, TEM & FIB

Oxford Instruments NanoAnalysis fornisce strumenti all'avanguardia che consentono la caratterizzazione dei materiali e la manipolazione dei campioni su scala nanometrica.
Utilizzati con microscopi elettronici (SEM e TEM) e sistemi a fascio ionico (FIB), gli strumenti OIN sono utilizzati per la ricerca e lo sviluppo in un'ampia gamma di applicazioni accademiche e industriali tra cui:

  • semiconduttori
  • energie rinnovabili
  • estrazione mineraria
  • metallurgia
  • medicina legale
Introduzione alla spettroscopia EDS/EDX - Mappatura di grandi aree con SEM