RHK - Panscan
Stabilità in condizioni estreme
Tutti i device in stile Pan devono la loro origine e il loro nome al Dr. Shuheng Pan dell'Università di Houston - Dipartimento di Fisica, che è lo sviluppatore originale di questo stile piezo-motore.
Lo scanner Pan è noto per la sua stabilità in condizioni estreme. RHK ha collaborato direttamente con il Dr. Pan per commercializzare il suo progetto, migliorando l'originale con l'aggiunta di offset XY, possibilità di sostituire le punte in situ, più punti di accesso ottico e sonde AFM-qPlus, il tutto in un pacchetto modulare straordinariamente robusto e compatto. PanScan è disponibile solo con STM o con entrambe le funzionalità STM e AFM. Le sonde AFM-qPlus e STM sono commutabili nel vuoto.
I sensori qPlus includono una punta conduttiva per tecniche di scansioni AFM e STM combinate. Queste tecniche complementari di sonda di prossimità forniscono risoluzione atomica. Il valore unico di questo tipo di AFM è la sua applicabilità a una gamma più ampia di materiali, in particolare isolanti. Utilizzando portasonda con la stessa base di montaggio, è possibile caricare facilmente sia le sonde STM che AFM-qPlus e passare dall'una all'altra in situ. Le dimensioni compatte e la costruzione non magnetica di PanScan lo rendono ideale per il funzionamento da mK a 400K. Un design unico che permette un facile adattamento. PanScan è disponibile in diverse configurazioni, dai kit per il funzionamento atmosferico ai sistemi completi a bassa temperatura senza necessità di criogeno (helium free).
