Il Blog di Schaefer

Le notizie di questa sezione riguardano nuovi prodotti a catalogo, e novità nell'ambito delle nanotecnologie e dei sistemi di misurazione, vacuometri e flussimetri.

Ultime News

Martedì 21 Luglio 2020

Webinar - Misurazione della rugosità superficiale di film sottili e substrati tramite microscopia a forza atomica

Mercoledì 29 luglio 2020 16:00 - 17:00

La rugosità superficiale è una misura importante per film sottili e substrati, applicabile a una vasta gamma di applicazioni, tra cui elettroniche per semiconduttori, archiviazione dati, ottica e altri componenti in vetro, nonché...

Lunedì 06 Luglio 2020

15 Luglio: prossimo webinar sul DWS

Partecipa anche tu il 15 luglio al nuovo webinar LS Instruments, con interventi live!

Il prof. Samiul Amin (Manhattan College) presenterà le nuove applicazioni della microreologia ottica DWS nelle formulazioni cosmetiche. Verranno messe in evidenza la microstruttura dei...

Mercoledì 24 Giugno 2020

AFM Electrical characterization with ResiScope, Soft ResiScope & HD-KFM modes

Argomenti chiave del webinar:

  • Modalità AFM avanzate CSI – Misure elettriche
  • Modalità HD-KFM mode: Concetto, vantaggi ed esempi
    • La più avanzata modalità KFM single-pass (senza alzare la punta)
    • Sensibilità e risoluzione...

Lunedì 22 Giugno 2020

Drug delivery tramite smart microgels - Webinar: Microviscosimetria DLS di soluzioni proteiche

I microgel basati su polimeri termicamente sensibili sono stati ampiamente studiati nel contesto di applicazioni a rilascio controllato. La sfida è mirare al rilascio di ingredienti attivi mentre viene mantenuta la biodisponibilità, prevenendo così il degrado prematuro del farmaco. Recentemente...

Lunedì 22 Giugno 2020

Webinar 25/06/2020 - ISO 25178: Caratterizzazione della struttura superficiale

La ISO 25178 è considerata una delle pietre miliari principali nella caratterizzazione della struttura superficiale 3D. Si basa sul principio che la natura è intrinsecamente tridimensionale. È...

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