Microscopio a forza di sonda Kelvin Force ad elevata definizione: BIMODAL HD-KFM

La caratterizzazione elettrica tramite il microscopio a forza atomica sta guadagnando terreno nella comunità scientifica legata all’AFM, in quanto in grado di rispondere, con un elevato valore aggiunto, alle nuove attività di ricerca nell’ambito sia delle nanotecnologie in particolare nei campi relativi all’energia recuperata (energy harvesting), e all’elettronica basata su polimeri o su materiale organico, e sia nell’ambito dei semiconduttori.

La tecnica bimodale HD KFM, sviluppata da CSI per il microscopio AFM Nano-Observer, amplifica il sistema di feedback sfruttando il secondo autostato vibrazionale della cantilever. Ciò consente di mantenere la sonda più prossima al campo elettrico prodotto dal potenziale superficiale del campione rispetto ad altri approcci, e quindi consente una maggiore sensibilità e risoluzione dei dettagli del potenziale superficiale. Tutto ciò si rivela di estrema importanza quando si indagano piccole molecole o materiali bidimensionali. Molte applicazioni della caratterizzazione del potenziale superficiale attraverso il HD-KFM bimodale sono descritte nella nota applicativa.