Microscopio STM/AFM con particolare focus su AFM conduttivo
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Il nuovo microscopio AFM Nano-Observer si caratterizza per il rapporto Qualità/prezzo. Si tratta di un microscopio con caratteristiche prestazionali idonee a misurazioni sulla nano-scala di frontiera, ad un prezzo concorrenziale. Il microscopio è stato sviluppato da Concept Scientific Instruments (con sede a Les Ulis nell'area metropolitana di Parigi).
Il Nano-Observer si distingue per le seguenti caratteristiche funzionali/prestazionali:
- Singolo scanner con spazzata 100umX100umX9um ed alta risoluzione. Ciò rende possibile zoomare in aree di interesse sub-micrometriche, e fare imaging con risoluzione molecolare partendo da una visione di insieme su scala di molte decine di micometri
- Dotazione di una cameretta entro la quale si può agevolmente creare un'atmosfera controllata (es. gas inerte), con laser e fotodiodo esterni a tale camera
- Modalità SPM avanzate, con particolare focus su AFM conduttivo (noto come: I-AFM, o C-AFM o CS-AFM) con il più vasto range di corrente elettrica disponibile sul mercato!
- Ottimo contrasto di fase, importante nelle modalità di imaging avanzate!
- Facilità di utlizzo: grazie ad una interfaccia SW moderna che consente di visualizzare
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08/12/2019
Caratteristiche Tecniche
XY Scan range | 100µm (tolerance +/- 10%) |
Z range | 9µm ( tolerance +/- 10%) |
XY drive resolution | 24 bit control - 0.06 Angströms |
Z drive resolution | 24 bit control – 0.006 Angströms |
Z noise level | <0.05nm RMS |
Reduced coherence laser | Wavelenght 658 nm – power < 1mW |
Color optical view system | Top and side view |
6 DAC Outputs | 6 D/A Converters – 24 bit |
8 ADC Inputs | 8 A/D Converters – 16 bit |
Data points | Up to 4096 |
Integrated Lock-in (Oscillating mode & phase) | Up to 6 MHz |
Interface | USB 2.0 |
Controller size - weight | 8 cm x 20 cm x 26 cm - 2 kg |
Power | AC 100 – 240 V 47-63 Hz |
Operating System | Windows XP (SP3 & Framework.NET 3.5 SP1) or Windows 7 (32/64bit) |