Imaging 3D

L'elenco degli articoli del nostro blog che parlano di Imaging 3D

Mercoledì 29 Settembre 2021
 4-9 ottobre 2021 - EMO MILANO 2021 - Vieni a provare i profilometri ottici Sensofar!

Dal 4 al 9 ottobre 2021 a Milano si svolge l'evento più atteso dell'anno in Europa per l'industria manifatturiera!

Sensofar e Schaefer saranno presenti, con i profilometri ottici 3D di più recente produzione.

Tutti i visitatori del nostro stand...

Martedì 28 Settembre 2021
30/09/2021 - WebinarTomocube sull'olotomografia:

I poliidrossialcanoati (PHA) sono poliesteri biodegradabili accumulati sotto forma di granuli insolubili all'interno di alcuni microrganismi e considerati sostituti sostenibili, e rispettosi dell'ambiente, per le plastiche a base di petrolio. Nonostante i...

Mercoledì 19 Maggio 2021
Webinar 3 giugno 2021 - In che modo la misura 3D senza contatto della superficie può migliorare il processo di produzione additiva

Giovedì 3 giugno:

  • Ore 10.00
  • Ore 18:00

La produzione additiva è diventata, in tempi brevi, un processo consolidato in molte aree della produzione.
Le progettazioni complesse, con funzionalità migliorative, sono facilmente realizzate...

Lunedì 10 Maggio 2021
Il profilometro 3D top di gamma S neox di Sensofar

Sensofar S neox

Sensofar ha sostanzialmente migliorato le prestazioni dello strumento S neox: il profilometro ottico top di gamma della Sensofar è ora ancor più performante per quanto riguarda i processi di automazione della misura e l'usabilità/maneggevolezza. Anche il pacchetto di convalida del sistema, che...

Giovedì 29 Aprile 2021
3 maggio 2021 ore 15 - Webinar sull'olotomografia by Tomocube: ricerca piastrinica con il microscopio HT

È disponibile la registrazione del webinar.

Fino ad ora, l'imaging piastrinico si limitava a concentrarsi principalmente sulla morfologia. La tecnologia olotomografica (HT) di Tomocube offre una nuova prospettiva alla ricerca piastrinica fornendo...

Giovedì 25 Febbraio 2021
Riparazione di fotomaschere con le punte Adama Innovations sharp ultra resistenti

Nuova application note per la riparazione di fotomaschere. Un'ottima opportunità per constatare come le punte di Adama Innovations, realizzate con singolo cristallo di diamante, possono essere utili per questa specifica applicazione.

  • Riparazione di difetti -...
Lunedì 18 Gennaio 2021
Come visualizzare l'LLPS (separazione di fase liquida liquida) con l'olotomografia di Tomocube

Riuscire a vedere l'LLPS (separazione della fase liquida liquida) tramite l'olotomografia di Tomocube ha suscitato l'interesse di molti ricercatori.
La possibilità di vedere l'LLPS in tempo reale, con lo strumento HT di Tomocube, è ben descritta nella pubblicazione di Choi et. al. dal...

Lunedì 11 Gennaio 2021
 Sorgenti di vibrazionI in un laboratorio

Schaefer distribuisce le piattaforme antivibranti di Daeil Systems. Daeil è un'azienda coreana che fornisce un'ampia gamma di sistemi di isolamento dalle vibrazioni, con grandi quantità di tavoli ottici venduti e installati in tutto il mondo,  sistemi di isolamento passivi e attivi. I clienti...

Martedì 20 Ottobre 2020
Un'interessante e utile guida fornita con i profilometri 3D S neox di Sensofar

Vista la complessità che contraddistingue la metrologia ottica di superficie, Sensofar ha creato un poster-documento che aiuterà gli utilizzatori del profilometro ottico 3D S Neox...

Mercoledì 05 Agosto 2020
Webinar 19 agosto 2020: caratterizzazione di materiali bidimensionali tramite la microscopia AFM a forza atomica

La microscopia a forza atomica (AFM) è una tecnica particolarmente potente per la caratterizzazione di materiali 2D tra cui grafene e dicalcogenuri di metalli di transizione come il disolfuro di molibdeno (MoS2). L'AFM può misurare facilmente non solo la topografia ma anche le...

Martedì 21 Luglio 2020
Webinar - Misurazione della rugosità superficiale di film sottili e substrati tramite microscopia a forza atomica

Mercoledì 29 luglio 2020 16:00 - 17:00

La rugosità superficiale è una misura importante per film sottili e substrati, applicabile a una vasta gamma di applicazioni, tra cui elettroniche per semiconduttori, archiviazione dati, ottica e altri componenti in vetro, nonché...

Lunedì 22 Giugno 2020
Webinar 25/06/2020 - ISO 25178: Caratterizzazione della struttura superficiale

La ISO 25178 è considerata una delle pietre miliari principali nella caratterizzazione della struttura superficiale 3D. Si basa sul principio che la natura è intrinsecamente tridimensionale. È...

Martedì 09 Giugno 2020
Webinar 11 giugno 2020: Tribologia, misura efficace delle superfici

Mar 11 giugno 2020 10:00 - 11:00
Mar 11 giugno 2020 18:00 - 19:00 

In questo webinar aumenterai le tue conoscenze sulla caratterizzazione della rugosità, passando dall'analisi Ra, ottenuta lo stilo a contatto, all'analisi ottica Sa...

Giovedì 30 Aprile 2020
Ricerca sui virus: importanti progressi grazie all'imaging AFM ad alta risoluzione

Cypher VRS Video-Rate AFM

La microscopia a forza atomica (AFM) è uno strumento straordinariamente potente per la ricerca in virologia. Le tecniche di imaging ad alta risoluzione, tra cui l'AFM e la microscopia elettronica, possono facilmente fornire informazioni sulle dimensioni e sulla forma delle particelle...

Sabato 18 Aprile 2020
Webinar 22/04/2020 - Tutto ciò che devi sapere sulla metrologia di superficie di attrezzi

Mercoledì 22 aprile 2020 - dalle 10 alle 11

La progettazione e la produzione di strumenti/utensili influiscono direttamente sulla qualità della produzione industriale su larga scala, rivolta agli utenti finali. Inoltre, i requisiti metrologici nel mercato degli strumenti/utensili sono...

Venerdì 03 Aprile 2020

Sensofar S Wide - Large area 3D optical profilometer

Mercoledì 8 aprile 2020 - dalle 10:00 alle 11:00

Presentato da: Carles Otero e Sandra de Pedro

Scopri il nuovo eccezionale profilometro...

Venerdì 07 Febbraio 2020
 DHM® ad alta velocità con fotocamera Nova Photron

Nuovo record mondiale!

Una nuova pietra miliare è stata raggiunta nel campo delle misurazioni della topografia 3D ultraveloce con la consegna al Professor James Friends, Università della California di San Diego, di un DHM T1000 dotato di una...

Venerdì 31 Gennaio 2020
 Vista laterale di una sonda AFM RMN

Rocky Mountain Nanotechnology, LLC, è l'unica azienda che produce sonde AFM ultra affilate in platino e platino-iridio, per misurazioni elettriche ad alta risoluzione. Queste punte AFM possono essere utilizzate in varie modalità, tra cui tapping e contatto, e sono ideali per...

Sabato 14 Settembre 2019
S neox Five Axis 3D optical profilometer 2019 - Product Release

Il nuovo profilometro ottico 3D S neox Five Axis combina, alla stessa maniera del modello precedente, il modulo rotazionale ad alta precisione, la piattaforma di traslazione ad alta risoluzione e capacità avanzate di ispezione e analisi. Include inoltre eccezionali ...

Giovedì 30 Maggio 2019
Profilometria ottica 3D allo stato dell'arte - Le novità presentate da GBS Ilmenau al Control Show 2019 a Stoccarda

GBS ILmenau ha esposto i suoi profilometri ottici 3D non contatto, da banco e in linea, al Control Show di Stoccarda, all'inizio di Maggio. Come molti suoi competitor presenti alla fiera, l'obiettivo era quello di dimostrare ai visitatori le caratteristiche uniche dei suoi...

Lunedì 29 Aprile 2019
Immagine 3D di un neurone di topo ottenuta grazie alla microscopia olografica digitale. Crediti: Lyncée Tec

Dal 21 al 23 maggio 2019 
Ospedale San Raffaele - Via Olgettina, 48 – 20132 Milano 

Tre giorni di studio e prove pratiche dedicati alle tecnologie olografiche applicate ai campioni biologici

...
Martedì 02 Aprile 2019
Video: performance della tecnica unica CPEM™

Nenovision ha portato l'analisi e la caratterizzazione di grafene e materiale 2D a un livello superiore.

Questo nuovo video mostra come viene effettuata l'analisi di materiali 2D con l'AFM-in-SEM LiteScope di Nenovision!

il...

Mercoledì 20 Marzo 2019
Tomocube HT-2H - Strumento per olotomografia

Il video riprende una fase di apoptosi indotta da TNFα. Le cellule di NIH3T3 sono state riprese dal vivo e in continuo con un HT-2H. I tomogrammi 3D sono stati raccolti ogni 5 minuti per un massimo di 2 ore.

Lunedì 18 Febbraio 2019
Nuovo Profilometro Ottico 3D S neox Sensofar

Schaefer Italia è lieta di annunciare  il lancio da parte di Sensofar Metrology della quinta generazione del loro profilometro ottico di punta. L'S neox è un sistema di microscopia completo per profilometria ottica 3D a non contatto dalle altissime prestazioni, progettato...

Martedì 24 Aprile 2018
SmartWLI compact - Interferometro a luce bianca per applicazioni in linea

La qualità e velocità della linea smartWLI è ora disponibile anche per misure su linee di produzione. Grazie agli obiettivi ad alta velocità e al calcolo in tempo reale delle schede grafiche, l'interferometria in luce bianca di GBS permette risoluzioni in altezza di 0.1...

Lunedì 12 Giugno 2017
Nuove tecnologie per la misura della struttura superficiale: Confocal Fusion e Continuous Confocal - Webinar

Sensofar Metrology ha sviluppato un nuovo e innovativo software per i loro sistemi di misura della struttura superficiale in 3D, per i modelli 3-in-1 della linea S. Due nuove tecniche di misura – Confocal Fusion e Continuous Confocal – rappresentano nuovi sviluppi molto...

Lunedì 27 Marzo 2017
New technologies for 3D surface metrology - Confocal Fusion and Continuous Confocal

La Confocal Fusion e la Continuous Confocal sono due nuove tecnologie di acquisizione per metrologia di superficie in 3D sviluppate da Sensofar che si basano sull'esistente linea di Hardware "S". Per i sistemi della linea "S"...

Martedì 05 Aprile 2016
CSInstruments - AFM Training Courses 2016 - Nuova funzionalità AFM: Microscopia a forza magnetica laterale

Schaefer è lieta di annunciare che CSInstruments organizza un corso di formazione e aggiornamento di Microscopia a Forza Atomica per il 2016.
Il corso si terrà dal 10 al 12 Maggio 2016, presso la compagnia francese, al seguente indirizzo: 2...

Lunedì 08 Febbraio 2016
Nuove Mikromasch OPUS AFM - Optimized Positioning Upon Sample

La caratteristica principale delle nuove sonde Mikromasch OPUS™ è la tip visibility: le punte AFM OPUS™ sono posizionate esattamente all'estremità finale di ciascun cantilever con un angolo di 90 gradi, il che rende possibile il posizionamento estremamente preciso sul campione da misurare.

...
Venerdì 08 Gennaio 2016
Buon Anno da CSI Instruments - Il Risveglio della Forza Atomica

CSI e Schaefer augurano a tutti i propri clienti e ai navigatori un buon 2016!

Per l'occasione CSI Instruments, produttore del microscopio AFM Nano-Observer, prendendo spunto dall'evento cinematografico di fine 2015, ha preparato un simpatico video con il...

Lunedì 26 Ottobre 2015
AAC premia Sensofar per la migliore pubblicazione

Durante l'ultimo resoconto dell'Aluminum Anodizers Annual Conference & Exhibition (Pittsburgh, 2014), l'articolo presentato da Sensofar dal titolo "Using optical areal measurement methods to assess the surface shape and texture on aluminium anodized surfaces" ha ricevuto il premio Robert L....

Mercoledì 04 Marzo 2015
Microscopio STM/AFM Nano Observer - CSI Instruments

Schaefer è lieta di annunciare che dal 13 al 17 Aprile saremo impegnati in un roadshow attraverso l'Italia per presentare e far provare il nuovo microscopio STM/AFM Nano Observer di CSI Instruments. Il microscopio STM/AFM della casa francese CSI Instruments è lo...

Lunedì 02 Febbraio 2015
PanScan Freedom-LT - RHK Technology

Tutti i vantaggi dell'LT, Nessuno dei limiti

PanScan Freedom permette una performance di imaging con bassissimo rumore (<1 pm), con il criostato in funzione. Anche ambienti rumorosi non compromettono le performance,...