microscopia AFM

L'elenco degli articoli del nostro blog che parlano di microscopia AFM

Venerdì 16 Febbraio 2024
Galaxy Dual Controller per AFM Multimoede e nuovo AFM Nano-Observer II - Roadshow dal 18 al 22 marzo 2024

CS Instruments e Schaefer SEE organizzano un demo tour in Italia per presentare il Galaxy Dual per Multimode e il nuovo AFM Nano-Observer II.
Regalate una seconda vita al vostro AFM: il Galaxy Dual Controller rinnova e migliora le...

Mercoledì 22 Marzo 2023
Galaxy Dual Controller - Webinar Online

AFM Agilent 5100 e 5500 e Multimode - Nuova vita al tuo microscopio - Mantieni le modalità AFM esistenti e aggiungi nuove modalità avanzate!

Webinar GRATUITO giovedì 30 marzo 2023

Due orari disponibili 

Scopri come il tuo vecchio AFM...

Mercoledì 08 Febbraio 2023
Come scegliere le sonde AFM giuste per la tua applicazione

Registrati al webinar che ti guiderà nella selezione della sonda AFM ideale per la tua applicazione! Il 15 febbraio gli esperti di Asylum approfondiranno l'argomento, fornendo informazioni utili per gli utenti AFM, sia principianti che esperti.

Anche per un utente AFM...

Lunedì 16 Gennaio 2023
 The Future of Quantitative PFM

 

La Piezoresponse Force Microscopy (PFM) è una delle tecniche più potenti per la caratterizzazione su nanoscala di materiali piezoelettrici e ferroelettrici. Nonostante molti progressi lungo gli ultimi 30 anni, è comunque rimasto difficile effettuare...

Venerdì 18 Novembre 2022
Nuovo accessorio per il Jupiter XR AFM: nanoTDDB

Nuovo accessorio per il Jupiter XR AFM: nanoTDDB

Abstract

Nel campo della microelettronica, i dispositivi MOSFET (transistore a semiconduttore di ossido di metallo a effetto di campo) utilizzano materiali con strato (gate) ad alta costante dielettrica k, come il biossido di afnio (HfO₂) con una costante dielettrica...

Mercoledì 19 Ottobre 2022
Webinar - Analisi delle curve di forza AFM con MountainsSPIP® - Digital Surf

Presentatore del webinar: Mathieu Cognard, product manager per le applicazioni SPM.

Relatore Digital Surf: Dalia Yablon, fondatrice di SurfaceChar LLC, esperta di caratterizzazione dei materiali e nanotecnologie

In questo webinar, Digital Surg...

Giovedì 05 Maggio 2022

Vorresti dare un primo sguardo in esclusiva alle nuove funzionalità in arrivo con Mountains® 9.2?

Quindi iscriviti al prossimo webinar online di DigitalSurf, nel quale Alexis ti guiderà attraverso i punti salienti dell'ultima versione del software più all'avanguadia...

Giovedì 25 Febbraio 2021
Riparazione di fotomaschere con le punte Adama Innovations sharp ultra resistenti

Nuova application note per la riparazione di fotomaschere. Un'ottima opportunità per constatare come le punte di Adama Innovations, realizzate con singolo cristallo di diamante, possono essere utili per questa specifica applicazione.

  • Riparazione di difetti -...
Mercoledì 05 Agosto 2020
Webinar 19 agosto 2020: caratterizzazione di materiali bidimensionali tramite la microscopia AFM a forza atomica

La microscopia a forza atomica (AFM) è una tecnica particolarmente potente per la caratterizzazione di materiali 2D tra cui grafene e dicalcogenuri di metalli di transizione come il disolfuro di molibdeno (MoS2). L'AFM può misurare facilmente non solo la topografia ma anche le...

Martedì 21 Luglio 2020
Webinar - Misurazione della rugosità superficiale di film sottili e substrati tramite microscopia a forza atomica

Mercoledì 29 luglio 2020 16:00 - 17:00

La rugosità superficiale è una misura importante per film sottili e substrati, applicabile a una vasta gamma di applicazioni, tra cui elettroniche per semiconduttori, archiviazione dati, ottica e altri componenti in vetro, nonché...

Mercoledì 24 Giugno 2020
AFM Electrical characterization with ResiScope, Soft ResiScope & HD-KFM modes

Argomenti chiave del webinar:

  • Modalità AFM avanzate CSI – Misure elettriche
  • Modalità HD-KFM mode: Concetto, vantaggi ed esempi
    • La più avanzata modalità KFM single-pass (senza alzare la punta)
    • Sensibilità e risoluzione...
Lunedì 18 Maggio 2020
Webinar/Virtual Symposium - 27/05/2020 -  Applicazioni di microscopia a forza atomica AFM nella ricerca in virologia

Mercoledì 27 maggio 2020 dalle 17:00 alle 19:00 ora italiana

Un simposio online sponsorizzato da Oxford Instruments Asylum Research riguardante Applicazioni di microscopia a forza atomica AFM nella ricerca in virologia. Nel simposio interverranno quattro ricercatori,...

Giovedì 30 Aprile 2020
Ricerca sui virus: importanti progressi grazie all'imaging AFM ad alta risoluzione

Cypher VRS Video-Rate AFM

La microscopia a forza atomica (AFM) è uno strumento straordinariamente potente per la ricerca in virologia. Le tecniche di imaging ad alta risoluzione, tra cui l'AFM e la microscopia elettronica, possono facilmente fornire informazioni sulle dimensioni e sulla forma delle particelle...

Giovedì 12 Marzo 2020
Cypher VRS video-rate AFM - Webinar - Webinar - Visualizzazione di reazioni e di assemblaggi biomolecolari

The first and only full-featured video-rate AFM

Microscopia a forza atomica - AFM - a velocità video come strumento per biochimica e biofisica di singole molecole

Partecipa a questo webinar martedì 17 marzo alle 16:00

L'...

Venerdì 31 Gennaio 2020
 Vista laterale di una sonda AFM RMN

Rocky Mountain Nanotechnology, LLC, è l'unica azienda che produce sonde AFM ultra affilate in platino e platino-iridio, per misurazioni elettriche ad alta risoluzione. Queste punte AFM possono essere utilizzate in varie modalità, tra cui tapping e contatto, e sono ideali per...

Lunedì 18 Novembre 2019
La microscopia AFM mostra come il grafene scivoli sotto sforzo

Il valore di attrito superficiale estremamente basso del grafene e di altri materiali 2D offre interessanti possibilità di utilizzo degli stessi in qualità di lubrificanti nano-sottili per applicazioni su dispositivi MEMS e NEMS di prossima generazione. La possibilità di controllare attivamente...

Mercoledì 30 Ottobre 2019
Schaefer e Asylum-Oxford Instruments all'StSPM19EV  - 21-22 novembre 2019

Schaefer è lieta di comunicare che sarà presente, con il partner Asylum-Oxford Instruments, all’evento "Science through Scanning Probe Microscopy 2019 - Extended Version" (StSPM19-EV), organizzato dalla società...

Giovedì 03 Ottobre 2019
Probing Nanoscale Structure & Properties of Polymers: Advances in Atomic Force Microscopy

Webinar Live: 16  ottobre 16:00 BST / 11:00 EDT / 08:00 PDT / 17:00 CEST

Gli strumenti di caratterizzazione odierni devono fornire informazioni su scale che arrivano a dimensioni micro o...

Lunedì 23 Settembre 2019
Tre nuovi substrati per le sonde AFM ultra-sharp RMNano in Platino e Platino-Iridio!

I nuovi substrati:

  • C - Substrato senza il pad d'oro di adesione, per ridurre la capacità parassita (= alle dimensioni del substrato A)
  • D - Substrato con una linea di trasmissione in oro di 200um per l'intera lunghezza del chip; il retro è completamente rivestito d'oro (chip...
Giovedì 22 Agosto 2019
Tavolo antivibrante attivo KNS Systems con sistema shaker integrato

Il controllo delle vibrazioni meccaniche è di fondamentale importanza in tutti quei processi in cui si richiede la massima precisione. Gli esempi più ovvi sono i molteplici campi della microscopia/imaging in cui la risoluzione ottenibile è limitata dal rumore (RMS noise), che ha...

Martedì 02 Aprile 2019
Video: performance della tecnica unica CPEM™

Nenovision ha portato l'analisi e la caratterizzazione di grafene e materiale 2D a un livello superiore.

Questo nuovo video mostra come viene effettuata l'analisi di materiali 2D con l'AFM-in-SEM LiteScope di Nenovision!

il...

Martedì 19 Marzo 2019
Webinar Gratuito - Controller SPM R9plus da RHK Technology

Martedì 26 marzo (Americhe), mercoledì 27 marzo (Europa), e giovedì 28 marzo (Asia e Australia) RHK presenterà in un webinar gratuito le caratteristiche uniche del controller SPM R9plus e le sue applicazioni nel campo delle nano-ottiche. (È possibile partecipare a uno qualsiasi...

Venerdì 15 Marzo 2019
Nuovo microscopio AFM Jupiter XR Large-Sample di Asylum Research

Schaefer Italia annuncia l'uscita del nuovo microscopio a forza atomica (AFM) Jupiter XR, il primo e unico AFM per campioni di grandi dimensioni, in grado di offrire sia un imaging ad alta velocità che un range esteso, tutto in un singolo scanner....

Martedì 20 Giugno 2017
High Definiton Kelvin Force Microscopy - BIMODAL HD-KFM

La caratterizzazione elettrica tramite il microscopio a forza atomica sta guadagnando terreno nella comunità scientifica legata all’AFM, in quanto in grado di rispondere, con un elevato valore aggiunto, alle nuove attività di ricerca nell’ambito sia delle nanotecnologie in...

Lunedì 05 Giugno 2017

Siamo lieti di annunciare che saremo presenti al "3rd BOLOGNA SPM WORKSHOP - SCANNING PROBE MICROSCOPY AND SPECTROSCOPY FOR MINERAL, BIOLOGICAL AND MATERIAL SCIENCES", il 14 Luglio prossimo  a Bologna.
Il workshop si terrà al Dip.to di Scienze Biologiche, Geologiche e Ambientali presso l'...

Mercoledì 05 Aprile 2017
AFM Trade-In Operation - Get a percentage discount on the purchase of an AFM microscope Nano-Observer

Scambia il tuo vecchio strumento e ottieni uno sconto in percentuale per l'acquisto di un nuovo microscopio AFM Nano-Observer!

Il microscopio AFM Nano-Observer ha compiuto 5 anni! Per festeggiare CSI, in collaborazione con Schaefer, offre uno...

Lunedì 05 Settembre 2016
PanScan Freedom Cryogen-Free LT AFM / STM

Schaefer è lieta di presentare una lunga intervista con Craig Wall, PhD, Marketing Director in RHK Technology sul nuovo pluripremiato sistema PanScan Freedom afm-spm cryogen-free a bassa temperatura. Mr Wall in questa intervista spiega al sito AZoM.com quali sono le...

Lunedì 25 Luglio 2016
CNR - ISMN Istituto per lo Studio dei Materiali Nanostrutturati - Bologna

Dal 20 al 21 Ottobre 2016, presso il CNR - ISMN Istituto per lo Studio dei Materiali Nanostrutturati a Bologna si terrà l'evento "Science through Scanning Probe Microscopy - StSPM'16". Si tratta di un workshop organizzato dalla Società Italiana Scienze Microscopiche (...

Mercoledì 22 Giugno 2016
Nano-Observer Microscopio AFM lancia la sfida per Euro 2016!

Segui Euro 2016 con CSI e vinci!

Unisciti a CSI con le stesse passioni, per il calcio e l'AFM: prevedi i vincitori di Euro 2016, a partire dai Quarti di Finale fino alla Finale, e vinci i premi...

Martedì 31 Maggio 2016
Beetle AFM - RHK Technology

Di seguito pubblichiamo un filmato ripreso da RHK qualche giorno fa con il Beetle UHV750 HV AFM. Questo sistema è funzionalizzato solamente da una pompa a turbina. Il campione è Silicio a 500°C, misurato in modalità AFM a contatto. Ogni immagine...

Mercoledì 11 Maggio 2016
Microscopio Olografico Digitale DHM-R

Dal 6 al 10 Giugno 2016 Schaefer organizza un roadshow attraverso l'Italia per promuovere lo strumento DHM-R della Lyncèe Tec, un microscopio Olografico Digitale, per l’acquisizione 3D in tempo reale con risoluzione nanometrica. Lo strumento in demo sarà corredato anche di un add-on per la...

Martedì 05 Aprile 2016
CSInstruments - AFM Training Courses 2016 - Nuova funzionalità AFM: Microscopia a forza magnetica laterale

Schaefer è lieta di annunciare che CSInstruments organizza un corso di formazione e aggiornamento di Microscopia a Forza Atomica per il 2016.
Il corso si terrà dal 10 al 12 Maggio 2016, presso la compagnia francese, al seguente indirizzo: 2...

Lunedì 08 Febbraio 2016
Nuove Mikromasch OPUS AFM - Optimized Positioning Upon Sample

La caratteristica principale delle nuove sonde Mikromasch OPUS™ è la tip visibility: le punte AFM OPUS™ sono posizionate esattamente all'estremità finale di ciascun cantilever con un angolo di 90 gradi, il che rende possibile il posizionamento estremamente preciso sul campione da misurare.

...
Venerdì 08 Gennaio 2016
Buon Anno da CSI Instruments - Il Risveglio della Forza Atomica

CSI e Schaefer augurano a tutti i propri clienti e ai navigatori un buon 2016!

Per l'occasione CSI Instruments, produttore del microscopio AFM Nano-Observer, prendendo spunto dall'evento cinematografico di fine 2015, ha preparato un simpatico video con il...

Mercoledì 21 Ottobre 2015
RHK Technology SPM PanScan Freedom versione 9K

Schaefer e il tem di RHK Technology sono felici di annunciare il lancio della nuovo PanScan Freedom System a 9K! I clienti ora potranno scegliere tra la versione a 15K e a 9K dei sistemi SPM senza liquido criogenico.

Martedì 13 Ottobre 2015
RHK Technology R9 Control System AFM SPM

Il vostro partner in nanotecnologia e leader nell'innovazione per quanto riguarda i sistemi di controllo SPM vi invita a partecipare al webinar della serie Coffee Talk.
Sapevato che è possibile avvantaggiarsi della flessibilità del controller R9 per raccogliere molte più misurazioni in un...

Martedì 15 Settembre 2015
Microscopio STM/AFM Nano-Observer CSI Instruments con touch screen!

Un nuovo video su YouTube illustra nei minimi dettagli il funzionamento del microscopio AFM Nano-Observer, prodotto da CSI Instruments. Ora lo strumento si rivela ancor più facile da utilizzare, grazie al controllo touch-screen. disponibile per pc,...

Mercoledì 04 Marzo 2015
Microscopio STM/AFM Nano Observer - CSI Instruments

Schaefer è lieta di annunciare che dal 13 al 17 Aprile saremo impegnati in un roadshow attraverso l'Italia per presentare e far provare il nuovo microscopio STM/AFM Nano Observer di CSI Instruments. Il microscopio STM/AFM della casa francese CSI Instruments è lo...

Martedì 13 Gennaio 2015
Punte AFM interamente in diamante - Promo su scatole con due campion

Schaefer è lieta di offrire ai propri clienti una speciale promozione per provare le punte AFM NaDia Probes della Advanced Diamond Technologies, costruite interamente in diamante. Queste punte possono vantare caratteristiche che le rendono...