Schaefer è lieta di annunciare che CSInstruments organizza un corso di formazione e aggiornamento di Microscopia a Forza Atomica per il 2016. Il corso si terrà dal 10 al 12 Maggio 2016, presso la compagnia francese, al seguente indirizzo: 2 rue de la Terre de Feu - 91940 LES ULIS- FRANCE.
Si tratta di un corso per utilizzatori di AFM e non, mirato a qualsiasi ricercatore o scienziato che voglia imparare la tecnologia AFM, o migliorare la propria conoscenza della tecnica.
Nuova funzionalità AFM: Microscopia a forza magnetica laterale
CSInstruments ha annunciato una nuova caratteristica per il suo microscopio AFM NanoObserver: MLFM, Microscopia a forza magnetica laterale. L'MLFM permette agli utenti di applicare un campo magnetico durante le misurazioni. Questo campo magnetico può essere variato durante la scansione.
Campmi magnetici su campioni MFM
Controllo del campo magnetico in-situ
Verifica in tempo reale delle variazioni del campo magnetico
CSInstruments - AFM Training Courses 2016 - Nuova proprietà AFM: Microscopia a forza magnetica laterale
Schaefer è lieta di annunciare che CSInstruments organizza un corso di formazione e aggiornamento di Microscopia a Forza Atomica per il 2016.
Il corso si terrà dal 10 al 12 Maggio 2016, presso la compagnia francese, al seguente indirizzo: 2 rue de la Terre de Feu - 91940 LES ULIS- FRANCE.
Si tratta di un corso per utilizzatori di AFM e non, mirato a qualsiasi ricercatore o scienziato che voglia imparare la tecnologia AFM, o migliorare la propria conoscenza della tecnica.
Compilate il modulo per ottenere maggiori informazioni
CSInstruments ha annunciato una nuova caratteristica per il suo microscopio AFM NanoObserver: MLFM, Microscopia a forza magnetica laterale. L'MLFM permette agli utenti di applicare un campo magnetico durante le misurazioni. Questo campo magnetico può essere variato durante la scansione.
Video esplicativo della nuova funzionalità
Prodotti correlati
Nano-Observer
Partner
Concept Scientific Instruments