R10 è l'ultima prodotto di una lunga serie di rivoluzionari sistemi di controllo SPM di RHK. R10 è il sistema di controllo SPM di decima generazione di RHK, costruito sulla conoscenza ed esperienza di un'azienda leader del settore, da 30 anni protagonista del mercato.
R10 è l'ultimo progresso nella continua evoluzione della famiglia di controller della serie R. Con un'enfasi sulla modularità come principio guida, frutto di una visione nel lungo termine, R10 presenta un nuovo design alla comunità di ricerca mondiale dell'SPM. L'esclusivo design di RHK mette in primo piano l'adattabilità pratica e la possibilità di diverse configurazioni, senza sorprese.
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 Brochure Controller SPM RHK R10 | 7.12 MB |
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Con un occhio di riguardo per le più recenti potenzialità e progressi nell'elettronica, il laboratorio R&D di RHK ha deciso di creare uno strumento nuovo, adottando una filosofia più lungimirante in termini di tecnologia e di durata, e di sostenibilità tecnologica. Questa nuova filosofia ha apportato miglioramenti significativi al nuovo software, firmware e hardware dell'R10, senza limitare o sacrificare in alcun modo le prestazioni del controller. Con una architettura modulare ottimizzata, R10 migliora ulteriormente le capacità dei controller RHK e guida gli utenti all'adozione delle migliori soluzioni.
RHK ha anche evitato la soluzione tradizionale, ormai sorpassata, di una scatola per ogni funzione. L'opzione di una pila di scatole ingombranti, alta un metro, con una giungla di cavi a corredo, non ha soddisfatto le esigenze di prestazioni e l'etica del design, della filosfia che RHK ha adottato con questo progetto.
In linea con la sua nuova filosofia di design, contrassegnata da una modularità ottimizzata, RHK ha progettato il nuovo R10 come un'elegante soluzione a 1 o 2 box. R10 rende disponibile un'unità separata per gli amplificatori ad alta tensione, se richiesti, e un'unità principale che permette di migliorare e perfezionare l'utilizzo e le tecnologie disponibili, tramite l'attivazione del firmware e di moduli plug-in hardware interni facili e veloci tramite l'esclusivo backplane.
Grazie alla modularità unica, semplice ma sofisticata di RHK, puoi gestire con facilità anche aggiornamenti altamente personalizzati, che ti permettano di aprire portare la tua ricerca in nuovi campi.
La modularità dell'R10 protegge gli utenti dai futuri rischi di obsolescenza o caratteristiche insufficienti che non permettono di raggiungere i propri obiettivi di ricerca. Offre agli utenti la possibilità di effettuare scelte avanzate con grande sicurezza. R10 ti dà la libertà di affrontare nuove importanti sfide, un passo alla volta ed entro i limiti di budget.
R10 Software Subscription ti consente di acquistare il software di cui hai bisogno e di pagarlo con comodità in tempi lunghi.
R10 Rent-a-Feature ti consente di "provare prima di acquistare", per avere fiducia quando userai realmente le nuove caratteristiche, e per avere una prova della bontà delle tue scelte di aggiornamento.
High Voltage Amplifiers: la flessibilità modulare di R10 offre tre scelte per quanto riguarda gli HVA. Se il tuo sistema SPM non richiede amplificatori ad alta tensione, non li comprendi, evitando costi inutili. Se hai bisogno di un set di HVA puoi, molto semplicemente, acquistarli e collegarli.
A prova di:
- Future evoluzioni
- Obsolescenza
- Caratteristica/Potenzialità
- Applicazione
- Scanning Tunneling Microscopy (STM) - Topography | Current
- Modulated STM STS Spectroscopy - I[V] | dl/dV | d2l/dV2 | dl/dZ | Hyperspectral Mapping
- Contact AFM - Topography | Lateral Force [LFM] | Conductive [C-AFM] | Spreading Resistance Imaging | Force Modulation (FMM]
- Intermittent Contact AFM - Amplitude | Phase | Drive | Pogo
- Amplitude Modulation AFM - Topography | Phase | Feedback
- Magnetic Force Microscopy (MFM] Electrostatic Force Microscopy (EFM] - Two-pass DC/AC | Lift DC/AC | Single-pass, | Two-pass | Amplitude Modulation | Frequency Modulation
- Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM] - Single-pass, Two-pass | Amplitude Modulation | Phase Modulation | Frequency Modulation | dC/dZ imaging | dC/dV imaging
- Piezo-response Force Microscopy (PFM] - Voltage | Current | Force
- Frequency Modulation AFM - qPlus® | Shear Force [SFM] | Cantilever | Tuning Fork | df | Dissipation
- Scanning Capacitance Microscopy (SCM)
- Scanning Thermal Microscopy (SThM]
- Multi-frequency AFM
- Scattering Scanning Near-field Optical Microscopy (sSNOM]
- AFM Spectroscopy - Force-distance | Amplitude-distance | Phase/ distance | I[V] | Hyperspectral mapping | df/Z❘ drive/Z
- Nanolithography - Bias or Force controlled patterning | User defined patterning Patterns and coordinates saved and loaded from standard file