Soft ResiScope: caratterizzazione elettrica AFM su campioni morbidi
- Tecnologia unica
- NO attrito
- Forza costante = Misure elettriche quantitative
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Il principio di Soft ResiScope si basa sul contatto intermittente. La sonda AFM rimane in contatto con il campione per un breve periodo di tempo, esercitando un controllo costante della forza, che consente a ResiScope II di misurare la resistenza e la corrente nelle migliori condizioni per effettuare misurazioni quantitative. Finita la misura la punta viene retratta e viene spostata all'area successiva.
Modalità Soft ResiScope VS Modalità oscillazione / contatto
Questo nuovo metodo non distruttivo denominato «soft ResiScope» è stato confrontato con la modalità di oscillazione convenzionale su un campione fragile (miscela polimerica). I risultati sono del tutto equivalenti. L'immagine qui sopra fa vedere le prime righe della scansione, misurate in modalità a oscillazione, e l'altra parte misurata in modalità soft ResiScope. È possibile notare la superficie danneggiata dalla precedente scansione effettuata in modalità contatto (quadrato blu): la superficie è stata graffiata dalla punta.
