Femto-LEED con otturatore completo DLD-L800

Misura nella nanoscala di strutture periodiche di superficie con sonda elettroni in femptoAmpere

CARATTERISTICHE:

  • Completamente digitale: senza schermo fluorescente
  • Ampia coherence width
  • Fascio primario di elettroni nel range dei femtoAmpere
  • Operatività potenziata dal controller LEED digitale
  • Il Femto-LEED rende possibile la diffrazione degli elettroni sul singolo cristallo