La rugosità superficiale è una misura importante per film sottili e substrati, applicabile a una vasta gamma di applicazioni, tra cui elettroniche per semiconduttori, archiviazione dati, ottica e altri componenti in vetro, nonché film sottili e rivestimenti, dalla carta all'imballaggio per alimenti. La rugosità superficiale è sia una metrica utile per monitorare le fasi di deposizione, incisione e lucidatura durante la lavorazione, sia una misura di controllo della qualità, procedimento comune per i materiali finiti. Nuovi materiali e processi stanno dando origine a superfici con rugosità ultra bassa che risultano difficili o impossibili da caratterizzare con stilo e profilometri ottici tradizionali.
Questo webinar introdurrà la Microscopia a Forza Atomica (AFM) quale potente strumento di misura per la rilevazione della rugosità dalla scala degli angstrom fino a decine o centinaia di nanometri. Gli ultimi AFM di Asylum Research possono rendere queste misurazioni più veloci, più semplici e di maggiore precisione rispetto agli AFM di generazione precedente, ancora comunemente utilizzati. Queste potenzialità saranno evidenziate in relazione a casi reali, esperimenti realizzati su materiali rilevanti sia per la ricerca industriale che per quella accademica.
Webinar - Misurazione della rugosità superficiale di film sottili e substrati tramite microscopia a forza atomica
Mercoledì 29 luglio 2020 16:00 - 17:00
La rugosità superficiale è una misura importante per film sottili e substrati, applicabile a una vasta gamma di applicazioni, tra cui elettroniche per semiconduttori, archiviazione dati, ottica e altri componenti in vetro, nonché film sottili e rivestimenti, dalla carta all'imballaggio per alimenti. La rugosità superficiale è sia una metrica utile per monitorare le fasi di deposizione, incisione e lucidatura durante la lavorazione, sia una misura di controllo della qualità, procedimento comune per i materiali finiti. Nuovi materiali e processi stanno dando origine a superfici con rugosità ultra bassa che risultano difficili o impossibili da caratterizzare con stilo e profilometri ottici tradizionali.
Questo webinar introdurrà la Microscopia a Forza Atomica (AFM) quale potente strumento di misura per la rilevazione della rugosità dalla scala degli angstrom fino a decine o centinaia di nanometri. Gli ultimi AFM di Asylum Research possono rendere queste misurazioni più veloci, più semplici e di maggiore precisione rispetto agli AFM di generazione precedente, ancora comunemente utilizzati. Queste potenzialità saranno evidenziate in relazione a casi reali, esperimenti realizzati su materiali rilevanti sia per la ricerca industriale che per quella accademica.
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