- Home
- Prodotti
- Profilometri ottici
- Microtomografia ai raggi X
- Microscopi per imaging sulla nanoscala
- Microscopie per analisi e manipolazione di singola cellula
- Microonde e Radiofrequenze
- Microscopia Digitale
- Strumenti per bio-nanoparticelle
- Sistemi di isolamento dalle vibrazioni
- Accessori e consumabili per Alto Vuoto e Ultra Alto Vuoto (UHV)
- Asta magnetica ridotta trasferimento campioni
- Asta magnetica per trasferimento campioni - Standard
- Braccio telescopico radiale
- Hardware per vuoto (attacchi, adattatori, ecc..)
- Stelo magnetico oscillante
- Port Aligners
- Passanti a movimento rotatorio
- Viewport - Finestre di controllo e Otturatori
- Valvole
- Sorgenti ultravioletto da vuoto (VUV)
- Sorgenti per Magnetron Sputtering
- Sistemi MBE (Molecular Beam Epitaxy)
- Sistemi di trasferimento del campione
- Sigillanti per sistemi in Ultra Alto Vuoto - UHV
- Passanti a movimento lineare
- Manipolatori basse temperature Helium Free - Low-Helium
- Feedthrough passanti elettrici per vuoto e ultra alto vuoto
- Evaporatori
- Componenti e Accessori UHV
- Camere e componenti
- Sistemi automatizzati di riconoscimento
- Consumabili Software Accessori AFM, SPM, STM, SEM e TEM
- Accessori e consumabili SEM
- Punte AFM/SPM
- Punte Conduttive e Punte Magnetiche
- Punte sharp con singolo cristallo di diamante
- Punte AFM Metalliche Super Sharp
- MEMS e Punte custom - Opzioni di personalizzazione
- Punte rivestite e rinforzate
- Punte e moduli per SThM
- Punte Silicio "Tip-View"
- Punte SPM/AFM al Nitruro di Silicio (Si3N4)
- Tipless Cantilever
- Punte SPM/AFM Silicio
- Strutture di Test e di Calibrazione
- Software analisi AFM, SEM, Profilometri
- Analisi di nanoparticelle
- Film Sottili
- Misura e controllo di: vuoto, flussi massici e campi magnetici
- Nanoparticelle per la Ricerca Scientifica
- Spin Coaters
- Strumenti per analisi fisico-chimiche
- Attrezzature plasticheria e vetreria per laboratorio
- Spettrofotometri per il colore
- Applicazioni
- Analisi Ambientali
- MEMS: analisi dinamica
- Misura e Controllo di Grandezze Fisiche
- Nano-Bio Scienze - Nanobiotecnologia
- Nanoparticelle
- Ricerca Industriale
- Scienza dei Materiali
- Scienza delle Superfici
- Partners
- Adama Innovations
- Affinity Biosciences
- AppNano
- CellSorter
- Concept Scientific Instruments
- Cordouan Technologies
- Cytoviva
- Daeil Systems
- DeltaPix
- Digital Surf
- GBS-Ilmenau GmbH
- Group 3 Technology
- Izon Science
- K&S Advanced Systems
- KLA Instruments
- KLM - Spin Coater
- LS Instruments
- Lyncée Tec
- Mikromasch
- Neoscan
- OCI Vacuum Microengineering
- Oxford NanoAnalysis
- Phasis
- Phe-nx
- RHK Technology
- Rocky Mountain Nanotechnology
- Sairem
- Sensofar
- Teledyne Hastings
- Testo AG
- Tomocube, Inc
- Vacseal Inc.
- X-rite
- nanoAnalytics
- nanoTherics
- Blog
- Chi Siamo
- Contatti
Promozione di inizio anno: -25% sui campioni di prova di punte AFM NaDia interamente in diamante
Schaefer è lieta di offrire ai propri clienti una speciale promozione per provare le punte AFM NaDia Probes della Advanced Diamond Technologies, costruite interamente in diamante. Queste punte possono vantare caratteristiche che le rendono uniche sul mercato degli accessori per microscopia AFM:
La promozione riguarda le confezioni di prova della serie ND (punte di forma piramidale). Le confezioni di prova contengono due punte .
Sulla singola confezione viene applicato uno sconto del 25% sul prezzo finale.
Provate queste punte AFM dalle eccezionali e impareggiabili caratteristiche!
Per richiedere ulteriori informazioni o un preventivo contattateci a questi riferimenti:
Documenti e file