La caratteristica principale delle nuove sonde Mikromasch OPUS™ è la tip visibility: le punte AFM OPUS™ sono posizionate esattamente all'estremità finale di ciascun cantilever con un angolo di 90 gradi, il che rende possibile il posizionamento estremamente preciso sul campione da misurare.
Le punte OPUS™ sono disponibili su tutti i tipi di cantilever standard per tutte le applicazioni AFM più comuni, inclusa la scansione ad alta velocità. Le sonde AFM OPUS™ sono inoltre disponibili con tutti i principali rivestimenti utilizzati.
Altre importanti caratteristiche delle sonde AFM OPUS™:
Sharpness inferiore a 7 nm
High Q-factor e curve di risonanza regolari
Prezzo altamente competitivo
Contattateci per ottenere campioni di valutazione.
La punta si trova esattamente al termine del cantilever, permettendo un posizionamento esatto dell'apice della punta sulla regione di interesse della superficie del campione.
Consistenza del Cantilever e Proprietà della punta
Il procedimento di creazione assicura un cantilever robusto e consistente e un forte legame con la punta. Il fattore di Alta Qualità, le curve regolari di risonanza, la buona riflettività del cantilever e l'eccellente acuminatezza della punta sono solo alcuni dei numerosi vantaggi su cui si può contare con l'utilizzo di ogni singola sonda AFM OPUS, e del relativo microcantilever in silicio.
Alta Qualità del silicio utilizzato
Tutti i cantilever in silicio della lina OPUS™ sono creati da monocristallini di silicio n-doped con resistività nell'intervallo 0.01 - 0.025 Ohm.cm per la dissipazione della carica statica. Il cantilever e la superficie del chip hanno un piano con angolazione (100), il cantilever punta nella direzione <110>.
Supporto del chip realizzato secondo standard industriali
Il supporto del chip del micro cantilever OPUS™ ha dimensioni in linea con gli standard industriali (3.4 x 1.6 x 0.315 mm) e si adatta a tutti i sistemi AFM che fanno uso di punte non premontate. Tutti i cantilever singoli presentano solchi di allineamento nella parte posteriore del chip.
Mikromasch presenta la sua nuova linea di sonde AFM: OPUS AFM
La caratteristica principale delle nuove sonde Mikromasch OPUS™ è la tip visibility: le punte AFM OPUS™ sono posizionate esattamente all'estremità finale di ciascun cantilever con un angolo di 90 gradi, il che rende possibile il posizionamento estremamente preciso sul campione da misurare.
Le punte OPUS™ sono disponibili su tutti i tipi di cantilever standard per tutte le applicazioni AFM più comuni, inclusa la scansione ad alta velocità. Le sonde AFM OPUS™ sono inoltre disponibili con tutti i principali rivestimenti utilizzati.
Altre importanti caratteristiche delle sonde AFM OPUS™:
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Documenti e file
La punta si trova esattamente al termine del cantilever, permettendo un posizionamento esatto dell'apice della punta sulla regione di interesse della superficie del campione.
Il procedimento di creazione assicura un cantilever robusto e consistente e un forte legame con la punta. Il fattore di Alta Qualità, le curve regolari di risonanza, la buona riflettività del cantilever e l'eccellente acuminatezza della punta sono solo alcuni dei numerosi vantaggi su cui si può contare con l'utilizzo di ogni singola sonda AFM OPUS, e del relativo microcantilever in silicio.
Tutti i cantilever in silicio della lina OPUS™ sono creati da monocristallini di silicio n-doped con resistività nell'intervallo 0.01 - 0.025 Ohm.cm per la dissipazione della carica statica. Il cantilever e la superficie del chip hanno un piano con angolazione (100), il cantilever punta nella direzione <110>.
Il supporto del chip del micro cantilever OPUS™ ha dimensioni in linea con gli standard industriali (3.4 x 1.6 x 0.315 mm) e si adatta a tutti i sistemi AFM che fanno uso di punte non premontate. Tutti i cantilever singoli presentano solchi di allineamento nella parte posteriore del chip.
Partner
Mikromasch