31 luglio 2019 - Webinar Sensofar: Soluzioni di metrologia ottica per semiconduttori e microelettronica

Partecipa a questo evento in cui Sensofar condividerà approfondimenti e consigli di esperti su argomenti chiave che affrontano la misurazione dimensionale ottica critica e l'analisi dei materiali

In questo webinar, della durata di un'ora, si discuterà dell'analisi specifica per il controllo di qualità nelle applicazioni PCB. Verrà trattato anche l'argomento delle misurazioni dimensionali critiche, della rugosità e dell'identificazione dei difetti. I presentatori Adam Platteis e Alberto Aguerri illustreranno le soluzioni relative a ISO 4287, ISO 25178 e le modalità tramite le quali il software proprietario di Sensofar identifica rapidamente profili, parametri di rugosità e difetti per struttura superficiale, altezza e tracce. L'attenzione si concentrerà su imaging di wafer, cuscinetti, gradini, legami e schede sonda.

Le soluzioni Sensofar possono essere utilizzate in laboratori di Ricerca e Sviluppo e in ambienti ad alta produttività QA / QC in linea per la segnalazione automatica Pass/Fail. Sensofar offre soluzioni standalone e personalizzabili che integrano le tecnologie confocale, interferometrica e di variazione di fuoco in un unico sensore per l'industria dei semiconduttori e della microelettronica.

Data e orario del webinar: mercoledì 31 luglio, dalle 17 alle 18